TX-200 鍍層測(cè)厚儀
- 公司名稱 深圳德譜儀器有限公司
- 品牌 DEPU/德譜
- 型號(hào) TX-200
- 產(chǎn)地 上海
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/11/8 7:52:48
- 訪問(wèn)次數(shù) 3417
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ROHS檢測(cè)儀,鹵素測(cè)試儀,x射線熒光光譜儀,重金屬檢測(cè)儀,鍍層膜厚分析儀,手持合金分析儀,手持礦石分析儀,手持土壤分析儀,ROHS2.0分析儀,rohs十項(xiàng)檢測(cè)儀,鄰苯檢測(cè)儀,色譜儀,光譜儀
產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,食品,電子,電氣,綜合 |
鍍層測(cè)厚儀
型號(hào):TX-200
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
一次可同時(shí)分析zui多24個(gè)元素,五層鍍層。
分析檢出限可達(dá)2ppm,zui薄可測(cè)試0.005μm。
分析含量一般為2ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%
長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性可達(dá)0.1%
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
鍍層測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
掃一掃關(guān)注【德譜儀器】