JX-2000 顆粒形態(tài)及粒度（圖像）分析儀
- 公司名稱 成都精新粉體測試設(shè)備有限公司
- 品牌 JingXin/成都精新
- 型號 JX-2000
- 產(chǎn)地 成都市白馬寺街19號
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/12/5 16:34:09
- 訪問次數(shù) 1808
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,地礦,電子/電池,包裝/造紙/印刷 |
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顆粒形態(tài)及粒度（圖像）分析儀產(chǎn)品介紹
JX-2000B圖像分析系統(tǒng)由光學顯微鏡、數(shù)字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成。因為粉體形態(tài)各異，在借助激光粒度儀測試的同時，選用顆粒圖像分析儀，可以更準確的直觀粒度形貌，控制好產(chǎn)品質(zhì)量。
應(yīng)用領(lǐng)域
1、金剛石、碳化硅、硅灰石、石英粉、石墨、鈷酸鋰、碳化硼、白剛玉、氧化鈰云母粉、碳粉、金屬粉等各種礦粉：
2、玻珠、水泥、藥品、食品、顏料、粉塵、農(nóng)藥、催化劑等各種粉體或漿料。
3、也可以用于驗證其他粒度測試的手段和方法。
顆粒形態(tài)及粒度（圖像）分析儀參數(shù)指標
序號 | 項目 | 指標 |
1 | 分析項目 | 粒度分布、長徑比分布、圓形度分布等 |
2 | 測試范圍 | 0.5～3000μm |
3 | 放大倍數(shù) | ≤4000倍 |
4 | 光學放大倍數(shù) | 1600倍 |
5 | 分辨率 | ≥0.1μm |
6 | 顯微鏡 | 透反射顯微鏡（可選配國產(chǎn)/金相/進口） |
7 | 數(shù)字攝像頭(CCD) | 300萬像素/500萬像素 |
8 | 目鏡 | 10X 、16X |
9 | 物鏡 | 4X 、10X 、20X、 40X、100X |
10 | 標尺刻度 | 10μm |
11 | 軟件運行環(huán)境 | Windows7 32位 |
12 | 接口方式 | USB接口高速穩(wěn)定傳輸 |
儀器優(yōu)點
1. 軟件分析與處理功能
1.1 通過圖像分析軟件可直接觀察顯微鏡下的顆粒形貌，并進行圖片采集。圖片可保存為JPG或BMP格式；軟件采集圖像后可調(diào)整圖像高度、寬度、分辨率等。根據(jù)不同倍數(shù)物鏡采集的圖像可設(shè)置相應(yīng)標尺或網(wǎng)格，直觀顆粒大小。
1.2 自由切換粒徑單位，標尺支持多種單位選擇，可在微米和毫米、厘米、英寸之間自由切換，方便小顆粒和大顆粒的進一步處理。
1.3 圖像分析處理
1.3.1 色調(diào)處理：灰度化、色調(diào)調(diào)整、亮度、對比度調(diào)整；
1.3.2 圖像矯正：水平鏡像、垂直鏡像、90度（逆時針）、90度（順時針）、旋轉(zhuǎn)、放大、縮小、任意比例縮放等；
1.3.3 測量單位：微米、毫米、厘米、英吋（任選）；
1.3.4 圖像增強：對比度均衡、膨脹、腐蝕等；
1.3.5 圖像處理：圖像銳化，邊緣平滑，二值化，面積濾波、邊界濾波，分析目標擦除、孔洞填充，手工擦除，手工連接，粒子屬性查看等功能；
1.4 可以對多幅圖形進行批量處理，增加顆粒數(shù)量，提高樣品的代表性，使處理結(jié)果更加準確、真實、可靠。
1.5 軟件功能強大，可根據(jù)行業(yè)特殊要求，設(shè)計磨料、硅灰石等專用軟件。
2.報告輸出
2.1 通過對圖像進行處理后，電腦自動統(tǒng)計出顆粒個數(shù)、面積、周長、體積、直徑、圓形度分布、長徑比分布、粒度分布數(shù)據(jù)，以及D10、D50、D90、D97、平均粒徑、表面積等特征值。
2.2 可將樣品彩色縮略圖顯示到報告中，樣品名稱、測試單位、分散介質(zhì)等多項信息輸入到報告表頭，可選多種報告格式。
測試報告
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