2 Continuum尼高力紅外顯微鏡

參考價(jià)：面議

摘要：尼高力紅外顯微鏡(NicoletIR-Microscope)

3 Nicolet Continuum尼高力紅外顯微鏡Continuum

參考價(jià)：￥300000

摘要：尼高力紅外顯微鏡Continuum儀器簡(jiǎn)介：
Nicolet Continuum紅外顯微鏡是代表世界上Z高水平的紅外顯微鏡。*在紅外顯微鏡中采用無(wú)限校正光學(xué)技術(shù)，改變過(guò)去聚焦光為平行光，消除透鏡產(chǎn)生的像差，使圖像輪廓更清晰，同時(shí)如果在光路中加濾光片、偏振片時(shí)也不會(huì)產(chǎn)生象差。
雙光闌系統(tǒng)*減小機(jī)械誤差與衍射干擾，使得數(shù)據(jù)更精確，光譜更可靠。

4 臺(tái)式掃描電子顯微鏡

參考價(jià)：面議

摘要：臺(tái)式掃描電子顯微鏡，是目前介于光學(xué)顯微鏡和傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡之前的新型產(chǎn)品。韓國(guó)SEC公司是自主研發(fā)桌面式掃描電鏡的廠家，同時(shí)還兼顧生產(chǎn)X-RAY設(shè)備，廣泛應(yīng)用于各大研究機(jī)構(gòu)、企事業(yè)單位。特別是目前正在快速發(fā)展的鋰電池行業(yè)，已經(jīng)全部實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化。深圳市瑞騰儀器設(shè)備租賃有限公司專(zhuān)業(yè)從事臺(tái)式SEM、、臺(tái)式電鏡、掃描電鏡的專(zhuān)業(yè)提供商。http://zlj1856.testmart.cn

5 SNE-4500臺(tái)式掃描電子顯微鏡SEM

參考價(jià)：￥800000

摘要：臺(tái)式掃描電子顯微鏡（DesktopScanning Electron Microscope, Desktop SEM）是目前市場(chǎng)上比較流行的電鏡產(chǎn)品，韓國(guó)SEC公司針對(duì)目前諸多客戶實(shí)測(cè)要求研發(fā)出臺(tái)式掃描電鏡。相較于傳統(tǒng)大型SEM，臺(tái)式掃描電鏡具有體積小、操作簡(jiǎn)便且價(jià)格便宜的優(yōu)點(diǎn)，Z大放大倍數(shù)從3萬(wàn)倍-10萬(wàn)倍左右。此類(lèi)新型儀器的出現(xiàn)*了光學(xué)顯微鏡與傳統(tǒng)大型掃描電子顯微鏡之間的間隙。

2 SNE-4500臺(tái)式掃描電子顯微鏡SEM

參考價(jià)：￥800000

摘要：臺(tái)式掃描電子顯微鏡（DesktopScanning Electron Microscope, Desktop SEM）是目前市場(chǎng)上比較流行的電鏡產(chǎn)品，韓國(guó)SEC公司針對(duì)目前諸多客戶實(shí)測(cè)要求研發(fā)出臺(tái)式掃描電鏡。相較于傳統(tǒng)大型SEM，臺(tái)式掃描電鏡具有體積小、操作簡(jiǎn)便且價(jià)格便宜的優(yōu)點(diǎn)，Z大放大倍數(shù)從3萬(wàn)倍-10萬(wàn)倍左右。此類(lèi)新型儀器的出現(xiàn)*了光學(xué)顯微鏡與傳統(tǒng)大型掃描電子顯微鏡之間的間隙。

2 Continuum尼高力紅外顯微鏡

參考價(jià)：面議

摘要：尼高力紅外顯微鏡支持雙檢測(cè)器， 既可作中紅外、也可作近紅外

2 Nicolet Centaurµ紅外顯微鏡

參考價(jià)：面議

摘要：Nicolet Centaur s 顯微鏡 采用了全新的光學(xué)設(shè)計(jì)，用于進(jìn)行快速可靠的顯微紅外光譜分析。儀器操作簡(jiǎn)單，易學(xué)易用，便于維護(hù)，是性?xún)r(jià)比*的分析及研究用顯微鏡。

2 AIM-8800紅外顯微鏡系統(tǒng)

參考價(jià)：面議

摘要：作為新一代*的紅外顯微鏡，AIM-8800紅外顯微鏡系統(tǒng)無(wú)論工作臺(tái)的移動(dòng)，光圈的設(shè)定還是聚焦都可以通過(guò)PC畫(huà)面來(lái)控制，是高智能的傅立葉變換紅外顯微鏡?？梢圆捎猛干浞ā⒎瓷浞ê虯TR法，應(yīng)用領(lǐng)域十分廣泛。不僅能實(shí)現(xiàn)高靈敏度的微量分析，而且操作簡(jiǎn)單方便，選配Mapping掃描軟件后可以實(shí)現(xiàn)強(qiáng)大的微區(qū)掃描的功能。

2 奧林巴斯紅外顯微鏡BX53M IR

參考價(jià)：面議

摘要：可對(duì)裸眼不可見(jiàn)的區(qū)域進(jìn)行無(wú)損的檢查和分析,以及近紅外觀察特化的顯微鏡。能對(duì)半導(dǎo)體晶片內(nèi)部和集成電路組件背面進(jìn)行無(wú)損的CPS bumps觀察

3 OLS5100紅外顯微成像系統(tǒng) BX/MX

參考價(jià)：面議

摘要：紅外顯微成像系統(tǒng) BX/MX配備的5X到100X紅外（IR）物鏡，提供了從可見(jiàn)光波長(zhǎng)到近紅外的像差校正。