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• 通過(guò)對(duì)土壤、鉆屑和鉆芯中的探途元素進(jìn)行XRF分析，可以快速發(fā)現(xiàn)潛在的金元素礦化的情況。
• 使用XRF分析儀對(duì)樣本進(jìn)行預(yù)先篩選，可以獲得優(yōu)選樣本，合理使用分析經(jīng)費(fèi)，以及更準(zhǔn)確地確定鉆井的區(qū)域。
• 通過(guò)XRF技術(shù)繪制結(jié)構(gòu)特性的映射圖，并識(shí)別礦化蝕變區(qū)域，可以使用戶更好地了解礦床，并有助于成功完成建模和定向工作。由于減少了稀釋方式的使用，因此可以獲得更好的金采收量。
• 在巖石地球化學(xué)應(yīng)用中使用XRF技術(shù)，可以迅速、經(jīng)濟(jì)地為巖石進(jìn)行分類。

金礦床的相關(guān)地球化學(xué)特征
資料來(lái)源：Reflex Geochemistry

探途元素和蝕變地球化學(xué)

大多數(shù)金礦床都有其特定的地球化學(xué)特征（如上表所示）。XRF分析儀可以探測(cè)到這些地球化學(xué)特征，從而可使地質(zhì)學(xué)家更清楚地了解他們正在勘查的地質(zhì)系統(tǒng)。典型的金探途元素包含As、Cu、Pb、Zn、Sb、Bi、Ag和W。

常見金探途元素的典型XRF檢出限（Vanta VMR型號(hào)地球化學(xué)模式）

*每個(gè)光束120秒的檢測(cè)時(shí)間，無(wú)干擾的二氧化硅基質(zhì)；請(qǐng)參閱奧林巴斯有關(guān)檢出限的文件，了解有關(guān)更低檢出限的詳細(xì)探討說(shuō)明。

用于探測(cè)金元素的XRF分析儀

*，手持式XRF分析儀不能對(duì)地質(zhì)樣本中低含量的金元素進(jìn)行直接檢測(cè)（如：低ppm和ppb值）。基于實(shí)驗(yàn)室的火試金法被普遍認(rèn)為是分析金元素的優(yōu)先方法。金元素的L線處于X射線熒光能量頻譜的非常擁擠的區(qū)域。在頻譜的這個(gè)區(qū)域中，來(lái)自其它元素（如：As, Zn, W和Se）的干擾，會(huì)使分析儀得出錯(cuò)誤的金元素存在的判斷。

不過(guò)，在某些特定的情況下，如：高品位的（> 5 ppm）石英脈環(huán)境（相對(duì)來(lái)說(shuō)沒(méi)有干擾）或在精煉的金產(chǎn)品中（金元素有很高的含量），可以使用XRF分析儀對(duì)金元素進(jìn)行直接檢測(cè)。

金礦上越來(lái)越多的實(shí)驗(yàn)室正在使用XRF技術(shù)替代或補(bǔ)充火試金法，對(duì)礦石進(jìn)行分析。請(qǐng)參閱奧林巴斯應(yīng)用注釋“在金礦實(shí)驗(yàn)室中使用手持式XRF分析儀”。在礦山上，工作人員也會(huì)使用奧林巴斯手持式XRF分析儀檢測(cè)活性炭中的金元素。請(qǐng)參閱奧林巴斯應(yīng)用注釋“檢測(cè)活性炭中的金元素”。

圖像由Arne等提供（2014） – 在金元素勘探中對(duì)來(lái)自便攜式XRF分析儀的資產(chǎn)規(guī)模數(shù)據(jù)的使用 – 優(yōu)勢(shì)和局限性，地球化學(xué)：勘探，環(huán)境，分析。
來(lái)自加拿大的金元素勘探項(xiàng)目，XRF分析儀在野外繪制的表面土壤中As、Cu和Pb元素等值線圖對(duì)比ICP分析。

• 手持式XRF分析儀

  檢測(cè)儀器在線詢價(jià)