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當(dāng)前位置：> 供求商機(jī)> LODAS™ – BI12-GlassWafe缺陷檢查裝置
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貨物所在地：上海上海市
更新時(shí)間：2024-09-17 21:00:25
有效期：2024年9月17日 -- 2025年3月17日
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特征：
Glass Wafer的出貨檢查、過程評(píng)價(jià)
可同時(shí)檢查表面，背面和內(nèi)部的缺陷
用微分干涉顯微鏡判斷、分析表面和背面的缺陷
檢查對(duì)象：12inch、8inch、6inch、Glass Wafer
檢查項(xiàng)目：表面和背面的顆粒、內(nèi)部缺陷
定期支持裝置安裝完成后的性能維持。
24小時(shí)電話對(duì)應(yīng)，全年無休的安心支持。
認(rèn)真對(duì)待客戶新的要求。
召開技術(shù)研討會(huì)和充實(shí)各種手冊(cè)，讓顧客能夠自行維護(hù)和更換零件。
提供HDD、激光光源等消耗品的免費(fèi)診斷服務(wù)。
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