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產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 著色滲透探傷劑/顯像劑/滲透劑/清洗劑 磁粉檢測(cè)試塊/磁粉探傷試塊 磁粉探傷耗材 移動(dòng)式磁粉探傷儀 多用磁粉探傷儀 磁粉磁軛探傷儀/磁探儀 X射線報(bào)警儀/個(gè)人計(jì)量?jī)x 暗室紅燈/三色燈/警告燈 超聲波探傷儀/測(cè)厚儀 退磁機(jī)/線圈退磁器 冷熱觀片燈/工業(yè)評(píng)片燈 強(qiáng)度計(jì)/特斯拉計(jì)/高斯計(jì) 數(shù)顯黑白密度計(jì)/密度片 超聲波探傷耗材 射線探傷耗材 磁粉、磁膏、磁懸液 高強(qiáng)度紫外線燈 熒光探傷燈 紫外線黑光燈/LED黑光燈/熒光探傷燈 工業(yè)X光膠片 JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSK-IA超聲波試塊 焊縫自然缺陷試塊 超聲波檢測(cè)試塊 *標(biāo)準(zhǔn)試塊與其他*標(biāo)準(zhǔn)試塊 工業(yè)恒溫洗片機(jī)、干片機(jī) 進(jìn)口 超聲波耦合劑 其它
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
檢測(cè)顯微鏡適合電子、冶金、化工和儀器儀表行業(yè)用于觀察透明、半透明或不透明的物資，如金屬陶瓷、集成塊、印刷電路板、液晶板、薄膜、纖維、鍍涂層以及其它非鑫屬材料，也適合農(nóng)林、*、學(xué)校、科研部門(mén)作觀察分析用。
詳細(xì)介紹
一、儀器用途
檢測(cè)顯微鏡適合電子、冶金、化工和儀器儀表行業(yè)用于觀察透明、半透明或不透明的物資，如金屬陶瓷、集成塊、印刷電路板、液晶板、薄膜、纖維、鍍涂層以及其它非鑫屬材料，也適合農(nóng)林、*、學(xué)校、科研部門(mén)作觀察分析用。
二、技術(shù)參數(shù)
可以直接電視機(jī)或電腦上觀察實(shí)物圖像。
1、目鏡
| 類(lèi)型 | 放大倍數(shù) | 視場(chǎng)直徑（mm） | 備注 |
| 大視野 目鏡 | 10X | 16 | |
| 20X | 8.5 | | |
| 平場(chǎng)分劃目鏡 | 10X | 16 | 格值：0.1mm |
2、物鏡
| 類(lèi) 型 | 放大倍數(shù) | 數(shù)值孔徑（NA） |
| 平場(chǎng)消色差物鏡 | 5X | 0.12 |
| 10X | 0.25 | |
| 20X | 0.40 | |
| 40X | 0.65 | |
| 60X | 0.85 | |
| 100X | 1.25 |
3．光學(xué)放大倍數(shù)：50X—2000X 系統(tǒng)參考放大倍數(shù)：50X—2600X
4. 三目鏡筒：旋轉(zhuǎn)式，傾斜30°
5. 同軸粗微動(dòng)調(diào)焦機(jī)構(gòu)：調(diào)焦范圍15mm 微動(dòng)格值2μm
6. 機(jī)械工作臺(tái)：縱向移動(dòng): 50mm 橫向移動(dòng):70mm
7. 照明光源：反射光:6v/20w鹵素?zé)?/span>亮度可調(diào); 透射光:6v/20w鹵素?zé)?/span>亮度可調(diào)
8. 偏光裝置：可插入式起偏振片,垂直照明裝置不僅能進(jìn)行一般金相分析、微粒
分析測(cè)試，還可以對(duì)不透明物體進(jìn)行分析、觀察。
9. 濾色片：藍(lán)、黃、綠、磨砂
三、系統(tǒng)簡(jiǎn)介
檢測(cè)顯微鏡是將傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡與數(shù)碼相機(jī)（計(jì)算機(jī)）通過(guò)光電轉(zhuǎn)換有機(jī)的結(jié)合在一起，不僅可以在目鏡上作顯微觀察，還能在數(shù)碼相機(jī)（計(jì)算機(jī)）顯示屏幕上觀察實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)圖像，并能將所需要的圖片進(jìn)行編輯、保存和打印。
四、系統(tǒng)組成
電腦型（TCM-500C） 1.顯微鏡 2.適配鏡 3.攝像器（CCD） 4.圖像采集卡 5.計(jì)算機(jī)
數(shù)碼相機(jī)型（TCM-500D）1.顯微鏡 2.適配鏡 3.數(shù)碼相機(jī)
五、選購(gòu)件
1.高像素成像系統(tǒng) 2.金相顯微鏡分析軟件 TX-3000JX
3.目鏡5X 15X 12.5X 20X 4.物鏡5X 25X 100X