請(qǐng)輸入產(chǎn)品關(guān)鍵字:
郵編:102208
聯(lián)系人:付經(jīng)理
電話:010-52571502
傳真:QQ:2459729122
手機(jī):15910725349
留言:發(fā)送留言
網(wǎng)址:www.hedebio.com
商鋪:http://www.muquzhou.cn/st121773/
電子顯微鏡的種類(lèi)
點(diǎn)擊次數(shù):1837 發(fā)布時(shí)間:2017-3-28
電子顯微鏡的種類(lèi)介紹 | |||||
電子顯微鏡 -種類(lèi)介紹 電鏡按結(jié)構(gòu)和用途可分為透射式電鏡、掃描式電鏡、反射式電鏡和發(fā)射式電鏡等。透射式電鏡常用于觀察那些用普通顯微鏡所不能分辨的細(xì)微物質(zhì)結(jié)構(gòu)。掃描式電鏡主要用于觀察固體表面的形貌,也能與X射線衍射儀或電子能譜儀相結(jié)合構(gòu)成電子微探針,用于物質(zhì)成分分析。發(fā)射式電鏡用于自發(fā)射電子表面的研究。 透射式電鏡透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscopyTEM,臺(tái)譯穿透式電子顯微鏡),因電子束穿透樣品后再用電子透鏡成像放大而得名。它的光路與光學(xué)顯微鏡相仿。在這種電鏡中,圖像細(xì)節(jié)的對(duì)比度是由樣品中的原子對(duì)電子束的散射形成的。樣品較薄或密度較低的部分電子束散射較少,這樣就有較多的電子通過(guò)物鏡光欄參與成像,在圖像中顯得較亮。反之,樣品中較厚或較密的部分在圖像中則顯得較暗。如果樣品太厚或過(guò)密則像的對(duì)比度就會(huì)惡化,甚至?xí)蛭针娮邮哪芰慷粨p傷或破壞。 ![]() ![]() 透射式電鏡的鏡筒結(jié)構(gòu):頂部是電子槍?zhuān)娮佑涉u絲熱陰極發(fā)射出、通過(guò)*,第二兩個(gè)聚光鏡使電子束聚焦。電子束通過(guò)樣品后由物鏡成像于中間鏡上,再通過(guò)中間鏡和投影鏡逐級(jí)放大,成像于熒光屏或照相干版上。中間鏡有兩個(gè)功能:①通過(guò)勵(lì)磁電流的調(diào)節(jié),放大倍數(shù)可從幾十倍連續(xù)地變化到幾十萬(wàn)倍;②改變中間鏡的焦距,即可在同一樣品的微小部位上得到電子顯微像和電子衍射圖像。為了能研究較厚的金屬切片樣品,法國(guó)杜洛斯電子光學(xué)實(shí)驗(yàn)室研制出加速電壓為3500千伏的超高壓電鏡。 通過(guò)改變物鏡的透鏡系統(tǒng)人們可以直接放大物鏡的焦點(diǎn)的像。由此人們可以獲得電子衍射像。使用這個(gè)像可以分析樣本的晶體結(jié)構(gòu)。能量過(guò)濾透過(guò)式電子顯微鏡 在能量過(guò)濾透過(guò)式電子顯微鏡(Energy Filtered Transmission Electron Microscopy,EFTEM)中人們測(cè)量電子通過(guò)樣本時(shí)的速度改變。由此可以推測(cè)出樣本的化學(xué)組成,比如化學(xué)元素在樣本內(nèi)的分布。 掃描電子顯微鏡掃描式電鏡(Scanningelectronmicroscope,SEM),電子束不穿過(guò)樣品,僅在樣品表面掃描激發(fā)出次級(jí)電子。放在樣品旁的閃爍晶體接收這些次級(jí)電子,通過(guò)放大后調(diào)制顯像管的電子束強(qiáng)度,從而改變顯像管熒光屏上的亮度。顯像管的偏轉(zhuǎn)線圈與樣品表面上的電子束保持同步掃描,這樣顯像管的熒光屏就顯示出樣品表面的形貌圖像,這與工業(yè)電視機(jī)的工作原理相類(lèi)似。掃描式電鏡的分辨率主要決定于樣品表面上電子束的直徑。放大倍數(shù)是顯像管上的掃描幅度與樣品上掃描幅度之比,可從幾十倍連續(xù)地變化到幾十萬(wàn)倍。掃描式電鏡的主要特點(diǎn)是:①不需要很薄的樣品;②圖像有很強(qiáng)的立體感;③能利用電子束與物質(zhì)相互作用而產(chǎn)生的次級(jí)電子,吸收電子和X射線等信息分析物質(zhì)成分。 |