數(shù)字IC多值邏輯測試儀，是我們通過總結(jié)國外同類產(chǎn)品的優(yōu)點(diǎn),本著實用、方便、測試精準(zhǔn)的宗旨，面向國內(nèi)外市場推出的數(shù)字IC參數(shù)測試儀（并且在不斷地完善之中）。該儀器特別適合，整機(jī)生產(chǎn)廠商及其它IC應(yīng)用廠家的器件級進(jìn)廠測試。目前，對中小規(guī)模數(shù)字IC進(jìn)行簡單的邏輯功能測試，已不能滿足IC用戶的測試需求。ICT3100 數(shù)字IC多值邏輯測試儀，利用*的多值參數(shù)比較法，可以對數(shù)字IC進(jìn)行功能測試并同時完成各項直流參數(shù)測試。ICT3100*可以滿足IC用戶的參數(shù)測試要求。ICT3100是一種性能實用、操作簡單、測試可信度高、成本低廉的優(yōu)秀測試儀器。
主要特點(diǎn)：
1． 測試電源拉偏狀態(tài)下，輸出電平加載測試。
2． 對輸出電流、輸出電壓直流參數(shù)進(jìn)行測試的同時，完成真值表功能測試。
3． 真值表功能測試的同時，完成“三態(tài)”（高阻狀態(tài)）漏電流測試。
4． 對IC輸入電流、功耗電流測試。
5． 輸入漏電流及交叉漏電流測試。
6． 測試過程無須人工干預(yù)。
7． 用戶可以自選測試模式，使用方便、操作簡潔。
8． 可自動識別74系列中的CMOS器件。
9． 可以查找未知IC的型號。
目前ICT3100的作用單位已遍及通信、電子儀器、電力電子、辦公自動化設(shè)備、計算機(jī)整
機(jī)、交通電子、消防科學(xué)器材等各個領(lǐng)域，并獲用戶*好評。

技術(shù)規(guī)格： 
產(chǎn)品主要性能：

在功能測試的基礎(chǔ)上 

□ 測試器件的輸入端注入電流。
□ 測試器件的輸入端交叉漏電流。
□ 測試器件的輸出端“三態(tài)”及“OC”門。
□ 測試器件的輸出負(fù)載電流。
□ 測試器件的功耗電流。
□ 查找未知芯片型號。
□ 可以單次測試，也可以循環(huán)測試.
□ 可自動識別74系列中的CMOS器件
  （如：74C、74HC、74HCT等）。
當(dāng)被測芯片被確認(rèn)為74系列CMOS器件時，儀器將自動地對其進(jìn)行測試并在顯示屏前顯示一
個“C”字（此時被測器件電源為TTL電源）。

本產(chǎn)品所提供的多值測試參數(shù)：

□ 8種可選擇的測試電源。
□ 根據(jù)不同材料的IC設(shè)置多種輸入端注入電流。
□ 多種測試電壓比較值。
□ 功耗測試。

以上參數(shù)的不同組合構(gòu)成不同的測試模式，其中包括用戶自定義模式及全組合測試模式。

測試模式：

模式O：  全組合參數(shù)測試。
模式1-C：操作與模式O相同，但各有其不同的測試參數(shù)數(shù)值。
模式D：  任選輸入負(fù)載電流及測試電源和輸入電流測試。
模式E：  自檢。內(nèi)容包括計算機(jī)部分、顯示、鍵盤及測試管腳電路。
模式F：  自編程測試。

測試范圍及測試品種：

□ 54 系列；4500 系列；
□ RAM 256K bit 
□ 74 系列；40000 系列；
□ EPROM 64K bit 
□ 4000 系列；C00 系列。 
□ 光耦

目前市場上所見到的某些功能測試儀無法對IC器件進(jìn)行直流參數(shù)測試和比較，因此會把
74LS373與74LS374、74LS352、74LS353、74LS125與74LS32及OC門與圖騰柱輸出門等功能性
能特性*不*的器件混為一類。這種儀器實用價值很低，用儀器測試通過后，有時上
機(jī)卻不能正常使用。本產(chǎn)品絕不會發(fā)生類似錯誤。
   該產(chǎn)品器件生產(chǎn)廠、整機(jī)生產(chǎn)廠作器件測試篩選之用，也適合科研、學(xué)校、部
隊、IC經(jīng)銷商使用。它是科技工程技術(shù)人員開發(fā)新產(chǎn)品的得力工具。