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中華人民共和國電子工業(yè)部部標準：高低溫低氣壓試驗設備通用技術條件【高低溫低氣壓
試驗方法】
1.1 本標準（SJ 2326-83高低溫低氣壓試驗設備通用技術條件）規(guī)定了電工、電子產品
進行高低溫低氣壓環(huán)境試驗時所用的試驗設備的技術條件。
1.2 本標準適用于溫度范圍-80℃～+200℃，氣壓范圍84～1kPa的高低溫低氣壓試驗設
備（以下簡稱“設備”）。
1.3 本標準能滿足GB2423.1-81《電工電子產品基本環(huán)境實驗規(guī)程實驗A：低溫試驗方法
》、GB2423.2-81《試驗B：高溫試驗方法》、GB2423.21-81《試驗M：低氣壓試驗方法》
、GB2423.25-81《試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法》、GB2423.26-81《試驗Z/BM：
高溫/低氣壓綜合試驗方法》等對試驗設備的要求。
1.4 本標準規(guī)定了樣品在作試驗時，可在同一個工作室內進行高溫、低溫低氣壓單項試
驗，高低溫循環(huán)試驗，低溫低氣壓和高溫低氣壓綜合試驗，還可以進行高低溫低氣壓組合
試驗;當進行后兩種試驗時，其試驗程序是先降溫后抽空降壓。
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