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冷熱沖擊試驗(yàn)箱(室)適用于科研、學(xué)校、工廠、軍工等單位用于電工、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料、軸承等各種材料在溫度急劇變化環(huán)境下的適應(yīng)性試驗(yàn)。

一、冷熱沖擊試驗(yàn)箱(室)對(duì)試驗(yàn)箱(室)的要求

　　本標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用冷熱沖擊試驗(yàn)箱(室)或采用高溫試驗(yàn)箱(室)和低溫試驗(yàn)箱(室)進(jìn)行冷熱沖擊試驗(yàn)，以提供試驗(yàn)樣品經(jīng)受周?chē)諝鉁囟燃眲“l(fā)生變化的環(huán)境溫度。

1、高溫試驗(yàn)箱(室)的要求，應(yīng)符合GJB150.3-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》的第3章各條所規(guī)定的要求。

　2、低溫試驗(yàn)箱(室)的要求，應(yīng)符合GJB150.4-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》的第3章各條所規(guī)定的要求。

　3、冷熱沖擊試驗(yàn)箱(室)提供高溫試驗(yàn)部分和低溫試驗(yàn)部分，應(yīng)分別符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的第3章各條所規(guī)定的要求。

　4、試驗(yàn)箱(室)的容積應(yīng)保證在試驗(yàn)樣品放入候補(bǔ)超過(guò)試驗(yàn)溫度保持時(shí)間的10%就能使試驗(yàn)箱(室)溫度達(dá)到GJB150.1-89中3.2條規(guī)定的試驗(yàn)條件容差范圍之內(nèi)。

四、試驗(yàn)樣品恢復(fù)要求：

試驗(yàn)樣品從試驗(yàn)箱(室)內(nèi)取出后，應(yīng)在正常的試驗(yàn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)，直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。

 

三，冷熱沖擊試驗(yàn)箱(室) 符合標(biāo)準(zhǔn)：
高低溫沖擊試驗(yàn)箱符合GJB150.3軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法-高溫試驗(yàn)、GJB150.4軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法-低溫試驗(yàn)、GJB150.5軍用環(huán)境試驗(yàn)方法溫度沖擊試驗(yàn)、GB/T2423.1低溫試驗(yàn)方法、GB/T2423.2高溫試驗(yàn)方法、GB10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件等標(biāo)準(zhǔn)。