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詳細介紹
一、半導體芯片測試高低溫溫度沖擊試驗箱廠家用途：
吊籃式冷熱沖擊試驗機用于光伏組件、LED燈管、LED燈具、電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè)，測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質,從精密的IC到重機械的組件，無一不需要冷熱沖擊試驗箱的鑒定
二、半導體芯片測試高低溫溫度沖擊試驗箱廠家詳細參數：
一、產品屬性 | ||
1.1容積：80L | ||
1.2工作室尺寸 | 350*400*350mm (寬×高×深) | |
1.3 外形尺寸 | 1400*1915*1950mm(寬×高×深) | |
1.4 沖擊形式 | 低溫高溫按程序自動交變，轉移樣品提籃，提籃式. | |
1.5供電電源 | 380V±10%,50Hz±1 | |
二、主要技術參數 三、 | ||
2.1 高溫室 | 高溫蓄溫箱溫度范圍 | +60℃～＋180℃ |
高溫沖擊溫度 | +60～150℃ | |
2.2 低溫室 | 低溫蓄溫箱溫度范圍 | -10℃～-60℃ |
低溫沖擊溫度 | -10℃～-40℃ | |
2.3.工作室
| 溫度波動度 | ≤0.5℃ |
溫度偏差 | ≤±2℃ | |
溫度均勻度 | ≤2.0℃（左右循環(huán)風道溫度均勻性更完善） | |
高低溫轉換時間 | ≤10S | |
高低溫恢復時間 | ≤5min（空載下非線性） | |
預熱區(qū)升溫速度 | ≥3~5℃/min（非線性） | |
預冷區(qū)降溫速度 | ≥1.2℃/min（非線性） | |
2.4沖擊溫度范圍 | -40~150℃ | |
2.5噪音 | 70dB以內 | |
2.6化霜周期 | 1000次循環(huán)無需要化霜（常規(guī)30個循環(huán)就化霜） | |
2.7 滿足試驗標準 | 1、1.IEC 60068-2-14環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化, |
2、GB/T 2423.22環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化, | |
3、GJB 150.5裝備實驗室環(huán)境試驗方法第5部分：溫度沖擊試驗, | |
4、JESD 22-A106B.01-2016溫度沖擊 等。。。 |
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