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當(dāng)前位置:上海右一儀器有限公司>>表面分析檢測(cè)儀>>涂鍍層測(cè)厚儀>> MINITEST 4100德國(guó)MINITEST 4100高精度涂鍍層測(cè)厚儀
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)MINITEST 4100
品 牌ElektroPhysik/德國(guó)EPK
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地上海市
更新時(shí)間:2016-03-29 06:31:59瀏覽次數(shù):1990次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)德國(guó)EPK公司超聲波測(cè)厚儀MiniTest
德國(guó)EPK公司超聲波測(cè)厚儀MiniTest
德國(guó)EPK公司超聲波測(cè)厚儀MiniTest
品牌:德國(guó)EPK
名稱:測(cè)厚儀
型號(hào):MINITEST 4100
價(jià)格:23470.00
(優(yōu)惠價(jià)格請(qǐng)?jiān)诰€或EPK銷售客服)
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詳細(xì)介紹:
用于測(cè)量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):
· 鋼鐵基體上的非磁性覆層
描述:
電源:1X9V堿性電池或外接電源
電池壽命:10000次測(cè)量
工作環(huán)境溫度:主機(jī)0
主機(jī)尺寸/重量:150mmx82mmx
*另有耐高溫測(cè)頭
適用:
DIN50891,50982,50984,ISO2178,2360,BS5411,ASTM B 499,B244-CE ISO
測(cè)量主機(jī):
技術(shù)特征 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 |
MINITEST存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量 |
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.應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測(cè)頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) | 1 | 1 | 10 | 99 |
.每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,可設(shè)寬容度極限值) |
| 1 | 10 | 98 |
.可用各自的日期時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) |
| 1 | 多500 | 多500 |
.數(shù)據(jù)總量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 |
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 |
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.讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar |
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.讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk |
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.組統(tǒng)計(jì)值六種x,x,n,max,min,kvar |
| ● |
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.組統(tǒng)計(jì)值八種 x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk |
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.存儲(chǔ)顯示每一應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) |
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.分組打印以上顯示和存儲(chǔ)得數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)值 |
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.顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 |
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MINITEST 校準(zhǔn)方法 |
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.透過(guò)涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC) |
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.在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn) | ● | ● | ● | ● |
.利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn) | ● | ● | ● | ● |
.補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(OFFSET) |
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.外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能 |
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.保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值 | ● | ● | ● | ● |
.更換電池時(shí)存儲(chǔ)讀值 | ● | ● | ● | ● |
.設(shè)置極限值 |
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.公英制轉(zhuǎn)換 | ● | ● | ● | ● |
.連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過(guò)模擬柱識(shí)別大小值 |
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.連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀值 | ● | ● | ● | ● |
.浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送 | ● | ● | ● | ● |
.無(wú)需連接測(cè)頭即可讀數(shù)值 |
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.組內(nèi)單值延遲顯示 |
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.連續(xù)測(cè)量模式中顯示小值 | ● | ● | ● | ● |
可選用測(cè)頭的技術(shù)數(shù)據(jù):
測(cè)頭 | 量程 | 低端 分辨率 | 容差 | 小曲率半徑(凸/凹) | 小測(cè)量 面積 | 小基體 厚度 | 尺寸(mm) |
FN1.6 | 0—1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | | φ | F | φ15x62 |
FN1.6P | 0—1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 只限平直表面 | φ | F | φ21x89 |
FN2(也適合銅上鉻) | 0—2000μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | | φ | F | φ15x62 |
F05 | 0—500μm | 0.1μm | ±(1%+0.7μm) | | φ | | φ15x62 |
F1.6 | 0—1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | | φ | | φ15x62 |
F3* | 0—3000μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | | φ | | φ15x62 |
F1.6/90(管內(nèi)測(cè)頭) | 0—1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 平直/ | φ | | φ8x8x170 |
F2/90(管內(nèi)測(cè)頭) | 0—2000μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | 平直/ | φ | | φ8x8x170 |
F10 | 0— | 5μm | ±(1%+10μm) | | φ | | φ25x46 |
F20 | 0— | 10μm | ±(1%+10μm) | | φ | | φ40x65 |
F50 | 0— | 10μm | ±(3%+50μm) | | φ | | φ45x70 |
N02 | 0—200μ | 0.1μm | ±(1%+0.5μmm) | | φ | 50μm | φ16x70 |
N08Cr(適合銅上鉻) | 0—80μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | | φ | 100μm | φ15x62 |
N1.6 | 0—1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | | φ | 50μm | φ15x62 |
N2 | 0—2000μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | | φ | 50μm | φ15x62 |
N1.6/90 (管內(nèi) 測(cè)頭) | 0—1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 平直/ | φ | 50μm | φ13x13x170 |
N2/90 (管內(nèi)測(cè)頭) | 0—2000μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | 平直/ | φ | 50μm | φ13x13x170 |
N10 | 0— | 10μm | ±(1%+25μm) | | φ | 50μm | φ60x50 |
N20 | 0— | 10μm | ±(1%+50μm) | | φ | 50μm | φ65x75 |
N100 | 0— | 100μm | ±(1%+ | | φ | 50μm | φ126x155 |
CN02(絕緣基體上的有色金屬覆層) | 10—200μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | 只限平直表面 | φ | 無(wú)限制 | φ17x80 |
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