品牌：德國EPK

名稱：袖珍新型微電腦涂鍍層測厚儀 

型號：MiniTest 720F 1.5

價(jià)格：11165.00

主要技術(shù)參數(shù)：

統(tǒng)計(jì)型，內(nèi)置一體測頭
鐵基涂層，0~1500um

MINITEST 720/730/740涂層測厚儀

-創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理）技術(shù)提升了測量的性

-測量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用

-FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯(cuò)

SIDSP技術(shù)-技術(shù)，智能數(shù)字化的涂層測厚探頭
模擬信號處理時(shí)代已成過去，數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢

MINITEST 720/730/740涂層測厚儀采用的SIDSP是什么？
SIDSP是由ElektrPhysik（簡稱EPK）研發(fā)的，的涂層測厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理，這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測量時(shí)，同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)*技術(shù)。

MINITEST 720/730/740涂層測厚儀的SIDSP工作原理？
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號，回傳的信號經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理，帶給您的涂層厚度值。此項(xiàng)*的數(shù)字處理技術(shù)，同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)（網(wǎng)絡(luò)）方面，如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均值，隨機(jī)分析，等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號處理*的信號質(zhì)量和度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優(yōu)勢，為涂層測厚設(shè)定了一個(gè)新的。

MINITEST 720/730/740涂層測厚儀為什么選擇SIDSP？
SIDSP探頭具有的抗干擾性
任何與測量相關(guān)的信號，都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進(jìn)行處理。測量信號不會通過探頭電纜傳輸時(shí)受到干擾，因?yàn)椴辉儆袦y量信號的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電，并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題，加長的電纜線同樣具有*的抗干擾能力。

MINITEST 720/730/740涂層測厚儀SIDSP-測量信號高穩(wěn)定性
EPK的SIDSP探頭具有的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點(diǎn)測量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果，再次證明了SIDSP探頭的性能。 

MINITEST 720/730/740涂層測厚儀高度的SIDSP探頭特征曲線
在過程中，EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴(yán)格的校準(zhǔn)。一般的模擬探頭只會在特征曲線上選幾個(gè)點(diǎn)來校準(zhǔn)，但SIDSP探頭不同：由于是全自動化過程，探頭在50個(gè)點(diǎn)上進(jìn)行校準(zhǔn)，大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個(gè)量程范圍內(nèi)都十分精準(zhǔn)，將測量錯(cuò)誤降至低。

MINITEST 720/730/740涂層測厚儀SIDSP探頭對溫度變化不敏感
在過程中，對每個(gè)SIDSP探頭都進(jìn)行了溫度補(bǔ)償?shù)木幋a，這對于模擬探頭是根本不可能實(shí)現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會影響測量，與溫度相關(guān)的錯(cuò)誤不會在SIDSP探頭上發(fā)生！

MINITEST 720/730/740涂層測厚儀SIDSP探頭適應(yīng)性強(qiáng)
需要快速測量幾個(gè)點(diǎn)嗎？只要開啟快速測量模式，探頭自動轉(zhuǎn)換到特定設(shè)置。想進(jìn)行高精度測量嗎？沒問題，只要選擇高精度模式，儀器同樣能自動轉(zhuǎn)換。不論您要求測量單個(gè)數(shù)值還是連續(xù)測量，SIDSP都能完成您的選擇！

MINITEST 720/730/740涂層測厚儀SIDSP N和FN型探頭基體導(dǎo)電性補(bǔ)償
由于使用了EPK特殊的自動補(bǔ)償方法，SIDSP電渦流探頭可以適應(yīng)多種導(dǎo)電性不同的非鐵基體材料，如銅，鈦，等等，無需特別在基體上校準(zhǔn)儀器。

MINITEST 720/730/740涂層測厚儀SIDSP-未來解決方案
EPK將繼續(xù)改進(jìn)SIDSP技術(shù)以滿足客戶的需求。您可以從EPK的進(jìn)行的軟件升級，使您的SIDSP探頭總是版本。

MINITEST 720/730/740涂層測厚儀及SIDSP
新的MINITEST 700產(chǎn)品線，加強(qiáng)了EPK在涂層測厚市場的.

有了新的SIDSP F型探頭（測量鐵基體）和N型探頭（測量非鐵基體），您可享受到高度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢和便利。新的MINITEST 700可以解決您所有涂層厚度問題，而產(chǎn)品的外觀是您長期價(jià)值和成功的關(guān)鍵，比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑，或電鍍等行業(yè)。

MINITEST 720/730/740涂層測厚儀增加了測量速度設(shè)置選項(xiàng)
MINITEST 700可以讓您輕松變換測量需求。在對精度要求不高的條件下，您可以短時(shí)間測量大量數(shù)值；也可以只測量少數(shù)幾個(gè)數(shù)值，但要求精度很高，您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測量值超過您所設(shè)定的極限值時(shí)，儀器會報(bào)警，保證您即使在快速模式下也不會錯(cuò)過任何信息。儀器具備聲、光報(bào)警，在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示，超過極限值則用紅色LED燈提示。

MINITEST 720/730/740涂層測厚儀使用簡單方便
MINITEST 700按照人體工學(xué)設(shè)計(jì)，外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的靈活性，MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭，方便測量難以到達(dá)的部位。MINITEST 700系列可以滿足您所有涂層測量需求：如果您想單手測量，可以選擇內(nèi)置探頭的720。730則是外置探頭的。所有型號都配有一個(gè)超大、背光的顯示屏，顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn)，方便您讀取數(shù)據(jù)。
預(yù)設(shè)選項(xiàng)節(jié)省您的時(shí)間和金錢
所有MINITEST 700探頭都可以對不規(guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無涂層基體上校零時(shí)，整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。為節(jié)省您的時(shí)間和金錢，儀器預(yù)設(shè)了大量校準(zhǔn)方法，適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)和3點(diǎn)校準(zhǔn)。另外，還有針對不同粗糙程度的粗糙度校準(zhǔn)。FN探頭自動識別基體類型避免操作者犯錯(cuò)。為適應(yīng)銷售需要，MINITEST 700滿足各種：SSPC-PA2，ISO，瑞典（SS184160），澳大利亞（AS 3894.3），ISO 19840和ASTM D7091（以前的D1186和D1400）。

MINITEST 720/730/740涂層測厚儀優(yōu)點(diǎn)一覽：
-SIDSP使測量不受干擾，測值更加
-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
-FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線
-大存儲量，能存儲10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作，25種語言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件

MINITEST 720/730/740涂層測厚儀配置： 推薦配件:
帶塑料手提箱，內(nèi)含： -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
-MINITEST 720（內(nèi)置探頭）
--或MINITEST 730（外置探頭）
--或MINITEST740主機(jī)（不含探頭，有各種探頭可選）
-校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板
-操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語
-2節(jié)AA電池

MINITEST 720/730/740涂層測厚儀技術(shù)數(shù)據(jù)表
SIDSP探頭