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LED積分球測試系統詳細介紹

閱讀:13134      發(fā)布時間:2018-4-18
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LED積分球測試系統詳細介紹

一、LED積分球測試解決方案

如下圖所示,為LED光源積分球測試系統示意圖。

積分球尺寸25cm、50cm、1m、2m、3m,內壁采用的,在紫外-可見-近紅外具有高達97%漫反射率的涂層,且在250-2500nmzui為有效。

LED光源放置在積分球內部4Pi支柱上或球壁2Pi位置進行測量,經過積分球均勻化后,經過光纖傳輸到達光譜儀進行分光。

進一步通過軟件得到LED光源的光學和顏色特性:總光譜輻射通量(W/nm)、輻射通量(W)、光通量(lm)、光效、光譜強度、色品坐標、色溫(CCT)、顯色指數(CRI)、峰值波長、主波長、色純度、半高帶寬(FHWM)、光譜功率分布等。

光通量標準燈和吸收標準燈(輔助燈)用于整個系統的校準。

用戶可自行進行系統校準和驗證,無須將整套系統返廠校正。

測試結果直接溯源至NIST標準,保證測試結果的高度準確。

生成Excel版測試報告,用戶可以自定義語言及報告界面格式。

LED光源積分球測試系統示意圖

LED光源積分球測試系統示意圖(以實物為準)

 

系統主要組成及描述:

LMS積分球

直徑25cm、50cm、1m、2m3m的積分球;

用于LED光源光信號的混合、均勻并收集。

集成有探測器、SMA適配器、擋板、2pi/4pi燈座等;

球內涂層:Spectraflect,漫反射率:>97%,波長范圍:250-2500nm,溫度接近100℃時熱穩(wěn)定性好;

可依據客戶不同要求,匹配不同涂層。如:可涂覆反射率、響應波段更寬、可靠性更高的Spectralon涂層。

符合IESNA  LM-79LM-82等、國內標準。

標準燈

4pi2Pi光譜輻射通量(W/nm)標準燈,用于系統校正,

直接溯源至NIST。

輔助燈

吸收標準燈(輔助燈),用于自吸收校正

光譜儀

光譜儀,通過光纖與積分球系統連接,接收經積分球混光均勻之后的光信號,并進行分光、采集;

探測器:2048像素線性CCD,1064×128薄型背照式CCD

光譜范圍:200-850nm,350-1100nm

PM-100

系統光控模塊,可通過軟件控制標準燈和輔助燈

支持負載類型:Labsphere光學標準燈和輔助燈

顯示模式:通信接口:USB2.0

Integral

基于HTML5的光譜測試、分析軟件

包含所有行業(yè)顏色計算標準:xy,uv,u′,v′,CCT,CRIR1-R15),CQS,光通量(流明),暗流明,Duv,主波長,峰值波長,FWHM,質心波長,純度等

I-2000

平均光譜強度探頭,符合CIE 127 LED光強測試標準

測量幾何學:AB型,立體角:0.01sr,

收集光學組件:近余弦Spectralon積分球

IES-1000

光譜強度/輻照度校準用標準光源

光譜強度:350-1050nm

※ 其他可選:電學模塊,壞境溫度控制模塊、升級模塊等。

注:1、積分球漫反射率必須足夠高,覆蓋較寬的波長范圍,性能可靠穩(wěn)定,材料均勻性好,性能一致(針對LED等方向性強的光源進行測量的結果,光通量誤差應小于±3%),平穩(wěn)的光譜反射率特性,涂料經久耐用、不脫落,不易變黃,易清理,可保證至少10年的可靠使用壽命,涂料無污染、無異味,不潮解。

2、積分球系統必須采用標準燈對整個系統進行校準。標準燈必須具有高穩(wěn)定性和高重復性,須在IESNA的推薦導則下進行篩選、老化和校準,以保證其zui高精度,溯源可至NIST。

3、積分球體敏感度比較大,対自吸收效果更加敏感。通常待測燈的大小及形狀與標準燈的大小和形狀并非*一致,積分球系統必須安裝吸收標準燈,進行自吸收校正。吸收標準燈在整個自吸測量過程中,燈光放射量必須穩(wěn)定。

4積分球必須一次成型,以保證積分球球體的圓度,無對接焊點,以使內部涂層更均勻。積分球的探測口必須是一個平坦的擴散體,與球體涂層表面齊平安裝,使光譜分析儀的檢測端口輸入一個滿足CIE要求的近余弦響應。

二、紫外(UVLED測試解決方案

紫外(UVLED測試是目前業(yè)界的一個難題,同樣,針對紫外(UVLED的積分球測試系統也面臨著諸多問題需要解決,須具備更高的可靠性。例如,用于系統校正的紫外標準燈很難制作,紫外輻射通量的大小,以及光譜范圍的要求;紫外(UV)積分球測試系統自身的積分球涂料不可以有紫外的熒光效應,這一點國內的涂料無法滿足,其次要保證涂層在紫外的照射下不能迅速老化等等。

美國Labsphere的紫外(UVLED積分球測試系統有效的解決了上述諸多問題,并且可根據用戶進行定制。該系統可溯源至NIST(美國國家標準局),確保測試結果的高度準確。

系統特點:

光譜輻射通量(W/nm)、總光譜輻射通量(W)測試,波長下限可達220nm

整個測試范圍(220-850nm)均可溯源至NIST(美國國家標準局);

可溯源至NIST的紫外(UV)光譜輻射通量標準燈,用于系統校正;

先進雜散光修正技術,低的暗噪聲以及高度;

220-850nm,也適用于測試可見(VIS)與近紅外(NIRLED。

 

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