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　　膜厚怎么測量？

　　基體表面鍍膜或氣相沉膜是材料表面工程中的重要技術，膜的厚度直接影響其性能，故需對其進行有效測量。目前常用的膜厚測量方法主要有磁性法、渦流法、超聲波測厚法等。其中渦流膜厚測量儀，由于采用了單一渦流法的渦流涂層測厚儀可以實現(xiàn)無損地測量非磁性金屬基材上的各種非導電覆蓋層的厚度，如油漆，橡膠，塑料，陽極氧化膜等，常應用于測量航空器，船舶，汽車，門窗以及各種鋁制品表面的涂層，陽極氧化層還有油漆的厚度。

　　

　　工作原理：

　　物質在被一定波長的X射線照射時，元素將處于激發(fā)狀態(tài)而發(fā)射出光子，形成一種特征X熒光射線。每一種元素的能量都是一一對應的，探測器在接收到元素的特征X熒光射線之后，可以通過其中的光子能量進行定性分析，還可通過其中的光子量值進行定量分析。

　　由于各個元素的特征X射線能量恒定，和元素有一一對應的關系，所以我們可以根據(jù)所得到的特征X熒光射線能量，對被檢物進行定性分析。通過檢測到的光子數(shù)量，可以對被測物進行定量分析。

　　1、涂覆層成分及厚度分析：對多層精準測試：多層合金、上下元素重復鍍層、輕元素和有機物涂鍍層及滲層的厚度及成分分析；

　　2、環(huán)保檢測解決方案：對各種重金屬及有害元素進行檢測，測試檢出限可達1ppm以下；

　　3、全元素成分分析：可對各種合金、礦石、土壤、珠寶首飾等等進行元素成分分析。