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X熒光測(cè)厚儀采用二次熒光法的原理及性能特點(diǎn)
閱讀：2098 發(fā)布時(shí)間：2021-5-19
X熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析。基于微軟中文視窗系統(tǒng)的中文版應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI主機(jī)的全面自動(dòng)化控制，分析中不需要任何手動(dòng)調(diào)整或手動(dòng)參數(shù)設(shè)定?？赏瑫r(shí)測(cè)定多種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足特定分析報(bào)告格式要求；如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、大值、小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差等多種數(shù)據(jù)分析模式。
X熒光測(cè)厚儀采用二次熒光法：它的原理是物資經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收過(guò)剩的能量而釀成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物資必需將過(guò)剩的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線鍍層厚度丈量?jī)x或成份分析儀的原理就是丈量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。
X熒光測(cè)厚儀性能特點(diǎn)
1、滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
2、0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
3、高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
4、采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
5、定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
6、鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
7、高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
8、良好的射線屏蔽作用
9、測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)