《GJB4.10-83艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)霉菌試驗(yàn)》長霉試驗(yàn)通常限于檢驗(yàn)是否用了適當(dāng)?shù)脑筒牧?。通過材料元件、零部件或小的組合件等試驗(yàn)，很容易正確地獲得所需要的許多重要數(shù)據(jù)；長霉試驗(yàn)是對(duì)試驗(yàn)新產(chǎn)品準(zhǔn)備運(yùn)行非常有利霉菌生長條件下所作的zui后檢測。通過試驗(yàn)可以檢測出具有良好設(shè)計(jì)性能的產(chǎn)品發(fā)生任何故障的性質(zhì)。

綜上所述，長霉（霉菌）試驗(yàn)是鑒定樣品及其材料在有利于霉菌生長的氣候條件下的長霉程度和由于長霉引起的表面變化和性能影響。

交變霉菌試驗(yàn)箱是讓試驗(yàn)樣品在一個(gè)理想的，適宜霉菌孢子快速生長的氣候環(huán)境中，人為考核試驗(yàn)樣品及其結(jié)構(gòu)材料的抗霉性能，及長霉對(duì)試驗(yàn)樣品電氣、機(jī)械性能影響的試驗(yàn)設(shè)備。