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溫度沖擊試驗(yàn)是指在電子產(chǎn)品上施加快速變化的溫度，用以暴露產(chǎn)品在低于溫度變化條件下會(huì)出現(xiàn)的潛在缺陷。在電子產(chǎn)品的研制過(guò)程中，會(huì)因各種原因?qū)е氯毕莸陌l(fā)生。溫度沖擊試驗(yàn)是針對(duì)電子產(chǎn)品在實(shí)際使用中可能遇到的溫度環(huán)境及應(yīng)力強(qiáng)度，選擇能激發(fā)其潛在缺陷的溫度，用以確定產(chǎn)品在經(jīng)受周?chē)髿鉁囟鹊募眲∽兓?溫度沖擊)時(shí)，產(chǎn)品是否產(chǎn)生物理?yè)p壞或性能下降使?jié)撛谌毕菁铀侔l(fā)展成為早期故障，剔除元器件、部件的早期失效及暴露設(shè)計(jì)和制造工藝的不足，使產(chǎn)品的可靠性更接近實(shí)際需要，從而保證和提高電子產(chǎn)品的可靠性。
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