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CSK-IB試塊 GS-1、2、3、4試塊承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSK-IA 試塊 CSK-IA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSK-IA超聲波試塊 溝槽射線探傷對(duì)比試塊 ASME非管徑焊縫試塊 NB/T47013-2015標(biāo)準(zhǔn)超聲波試塊 鐵道部標(biāo)準(zhǔn)試塊 石油天然氣管道專用試塊 建筑行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 其它國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)試塊 NDT培訓(xùn)考試試塊 超聲波探傷試塊
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紫外線燈75 不銹鋼鍍鉻條紋試塊 新美達(dá)清洗劑 紅色磁粉油磁懸液 顯像劑滲透劑清洗劑 反差增強(qiáng)抄數(shù)掃描劑 宏達(dá)牌反差增強(qiáng)劑 增強(qiáng)顯示劑磁粉探傷 新美達(dá)MT-BW黑水磁懸液 宏達(dá)牌干法黑磁粉、干法紅磁粉 熒光探傷磁粉磁懸 水基紅色磁懸液 宏達(dá)牌熒光磁粉(紅磁粉/黑磁粉) 新美達(dá)MT-BO黑油磁懸液 上海新美達(dá)/誠(chéng)友集團(tuán)反差增強(qiáng)劑 磁粉探傷用消泡劑 無(wú)錫捷成 磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì) 北京師范大學(xué) 屏幕亮度計(jì) 北師大紫外輻照計(jì) 宏達(dá)干法黑磁粉 宏達(dá)牌 熒光磁懸液 宏達(dá)牌反差增強(qiáng)劑 宏達(dá)牌濕法探傷磁粉膏 宏達(dá)牌著色滲透探傷劑 新美達(dá) DPT-5 著色滲透探傷劑 RJUV-90紫外線探傷燈 RJUV-40紫外線探傷燈 熒光磁粉探傷 顯影粉定影粉 DPT-5著色探傷機(jī)滲透探傷劑顯像劑 著色滲透探傷劑 A型靈敏度試片 FC-5反差增強(qiáng)劑 宏達(dá)黑油磁懸液 磁場(chǎng)指示器八角試塊 儒佳 RJ-LED86觀片燈與黑白密度計(jì)一體 儒佳RJH-130高精密超聲波測(cè)厚儀 磁粉探傷|干磁粉噴散器
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標(biāo)定尺 警戒帶警示牌 現(xiàn)場(chǎng)警示燈 膠片洗片機(jī) 透射式黑白密度計(jì) 工業(yè)底片黑白密度計(jì) 工業(yè)LED觀片燈 冷光源便攜式觀片燈 冷光源底片燈 工業(yè) 鉛箔增感屏 顯定影液套藥加熱棒 工業(yè)膠片透射式黑白密度計(jì)含校準(zhǔn)密度片 核輻射劑量片熱釋光片 冷光源工業(yè)觀片燈黑度5.0D 雙絲像質(zhì)計(jì)DR成像系統(tǒng)用雙線型IQI定制選擇 環(huán)境輻射檢測(cè)儀核輻射檢測(cè)手持式醫(yī)院工業(yè)射線巡檢儀 底片評(píng)片燈x光射線探傷 工業(yè)觀片燈/射線探傷評(píng)片/小巧臺(tái)式便攜/高亮度冷光源LED黑度5.0D 暗室紅燈定時(shí)器 射線探傷專用鉛字盒 愛(ài)克發(fā)AGFA G335定影液 沖洗套藥 手洗套藥 愛(ài)克發(fā)顯影液 定影液 沖洗套藥 手洗套藥 機(jī)洗套藥AGFA 管道射線探傷專用尺 定位尺 磁性貼邊框 數(shù)字定時(shí)器暗室紅燈定時(shí)器 不銹鋼洗片桶 射線評(píng)片尺 拉環(huán)磁鋼 膠片底片袋 可加工定制 暗室LED燈 (手持式)個(gè)人劑量報(bào)警儀 筆式輻射報(bào)警儀 環(huán)境輻射檢測(cè)儀 工業(yè)X射線照相底片袋 探傷膠片袋 定制定做 工業(yè)底片烘干箱 便攜工業(yè)底片烘干箱 325000Lux工業(yè)底片觀片燈 435000Lux工業(yè)底片觀片燈 高亮度工業(yè)觀片燈 腕式個(gè)人劑量計(jì) 黑白密度計(jì)定制生產(chǎn) 廠家直銷 個(gè)人輻射劑量報(bào)警儀價(jià)格 筆式輻射劑量報(bào)警儀 非磁性暗袋 射線探傷暗袋非磁人革暗袋 觀片燈 射線觀片燈 醫(yī)用輻射劑量報(bào)警儀 暗室紅燈計(jì)時(shí)器 一體式密度計(jì)觀片燈 高亮度射線底片觀片燈 暗室紅燈 手持式輻射報(bào)警儀 個(gè)人劑量報(bào)警儀 工業(yè)觀片燈 膠片燈 便攜式工業(yè)冷光源觀片燈 底片評(píng)片燈
怎樣選擇超聲波檢測(cè)的探頭?
怎樣選擇超聲波檢測(cè)的探頭?
超聲波探頭種類很多,性能各異,應(yīng)根據(jù)檢測(cè)對(duì)象,合理選擇探頭。
(1)頻率的選擇:對(duì)大厚工件、粗晶材料或檢測(cè)表面粗糙的工件,應(yīng)選擇較低頻率;對(duì)薄工件、細(xì)晶粒材料或?qū)π∪毕輽z出要求高時(shí),應(yīng)選擇高頻率。應(yīng)注意的是:裂紋等面狀缺陷,有顯著的反射指向性,如果超聲波不是近似于垂直入射,在探頭方向上就不會(huì)產(chǎn)生足夠大的回波,頻率越高,這種現(xiàn)象越顯著,所以應(yīng)避免使用不必要的高頻。一般來(lái)說(shuō),頻率上限由衰減和草狀回波信噪比決定,下限由檢出靈敏度、脈沖寬度和指向性決定。
(2)晶片尺寸選擇:晶片尺寸大,發(fā)射能量大,擴(kuò)散角小,遠(yuǎn)距離檢測(cè)靈敏度高,適用于大型工件檢測(cè);晶片尺寸小,近距離范圍聲速窄,有利于缺陷定位,對(duì)凹凸度大曲率半徑小的工件,易采用尺寸較小的探頭。
(3)探頭角度選擇:角度選擇原則是,盡量使聲束相對(duì)于缺陷垂直入射。鋼板、件內(nèi)缺陷多平行于表面,常選用直探頭。焊縫中危險(xiǎn)性缺陷多垂直于表面,常選用斜探頭。
(4)特殊探頭選擇:
1)檢測(cè)平行于檢測(cè)面的近表面缺陷用雙晶直探頭。
2)檢測(cè)薄壁管焊縫根部缺陷用雙晶斜探頭。
3)檢測(cè)管材、棒材用水浸焦距探頭。
4)檢測(cè)薄板(δ<6mm)用板波探頭。
5)用延時(shí)法檢測(cè)表面裂紋深度用表面波探頭。
6)檢測(cè)奧氏體不銹鋼焊縫用縱波斜探頭
7)檢測(cè)角焊縫近表面缺陷和層狀撕裂用爬波探頭。
8)為實(shí)現(xiàn)聲能集中,有利于缺陷定位,用點(diǎn)聚焦或線聚焦探頭。