X熒光光譜儀的廣泛應(yīng)用及優(yōu)點(diǎn)闡述
x熒光分析已廣泛應(yīng)用于材料、冶金、地質(zhì)、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境監(jiān)測、天體物理、文物考古、刑事偵察、工業(yè)生產(chǎn)等諸多領(lǐng)域,是一種快速、無損、多元素同時(shí)測定的分析技術(shù),可為相關(guān)生產(chǎn)企業(yè)提供一種可行的、低成本的、及時(shí)的檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑。
主要用途
X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度,可以 測定元素含量。
近年來,X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域,特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得多也廣泛。
大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析,可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品,分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。
1、優(yōu)點(diǎn)
1) 分析時(shí)間短。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān),但一般都很短,2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
2) 適用范圍廣。X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在*軟X射線范圍內(nèi),這種效應(yīng)更好。波長變化用于化學(xué)位的測定 。
3) 非破壞分析,重現(xiàn)性好。在測定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量,結(jié)果重現(xiàn)性好。
4) X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
5) 分析精密度高。
6) 制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
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