一、芯片加速老化箱用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗，高壓壽命老化箱，三綜合試驗機。

二、芯片加速老化箱特點

1.不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn)， 可防止試驗中結(jié)露滴水設(shè)計。

2.圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。

3.精密設(shè)計，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200h。

4.自動門禁，圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，安全門把設(shè)計，箱內(nèi)有大于常壓時測試們會被反壓保護。

5.箱內(nèi)壓力愈大時，packing會有反壓會使其與箱體更緊密結(jié)合，可延長packing壽命。

6.實驗開始前之真空動作可將原來箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內(nèi)之純凈度。

7.臨界點LIMIT方式自動安全保護，異常原因與故障指示燈顯示。

三、半導(dǎo)體高溫高壓試驗機技術(shù)參數(shù)

四、芯片加速老化箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

1.GB/T10586-1989濕熱試驗室技術(shù)條件。

2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗。

3.MIL-STD810D方法502.2。

4.GJB150.9-8溫濕試驗。

5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環(huán)試驗。

公司主營產(chǎn)品：冷熱沖擊試驗箱、恒濕恒濕試驗箱、高低溫試驗箱、步入式溫濕交變試驗室、高低溫濕熱交變試驗機、高溫老化房、快速溫變試驗箱、高低溫低氣壓試驗箱、pct測試儀 、中科pct測試設(shè)備、紫外線耐候老化試驗箱、氙燈耐候老化試驗箱、耐寒折彎試驗箱、砂塵試驗箱、淋雨試驗箱、臭氧老化試驗箱、換氣老化試驗箱、恒溫鼓風(fēng)干燥試驗箱、太陽光伏組件試驗箱、振動試驗機、跌落試驗機、拉力試驗機等可靠性試驗設(shè)備以及定做非標(biāo)機型。