目錄:天津市拓普儀器有限公司>>物理教學儀器>>導軌及光具座綜合實驗>> WSY-2型干涉測量實驗裝置
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應用領域 | 綜合 |
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產(chǎn)品詳細資料
該儀器主要利用導軌、支架及光學組件、如雙棱鏡分成兩束光，將兩束光相遇產(chǎn)生的明暗相間的干涉條紋用讀數(shù)顯微鏡測出條紋間距，再用二次成像繪測出一大、一小兩個縫像（即虛光源S1、S2）之間的距離代入公式即可。
楊氏雙縫干涉
菲涅爾雙棱鏡干涉
牛頓環(huán)裝置
1米導軌及組件、透鏡、二維調(diào)整架、干板架、白屏、單面可調(diào)狹縫、低壓鈉燈、雙棱鏡、牛頓環(huán)及直立架、讀數(shù)顯微鏡、雙縫片、半透半反等
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