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更新時(shí)間:2024-10-27 21:00:07
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冠層分析系統(tǒng)
一、用途:
通過測(cè)量作物冠層PAR值提供了關(guān)于影響田間作物生長的限制因素的有價(jià)值的信息,如葉面積指數(shù)(LAI);SunScan探測(cè)器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖。
二、原理:
根據(jù)冠層吸收的Beer法則(Beer’s law for canopy absorption)、Wood的SunScan冠層分析方程以及Campbell的橢圓葉面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations),使用光量子傳感器來測(cè)量、計(jì)算和分析植物冠層截獲和穿透的光合有效輻射及葉面積指數(shù)。
三、組成:
SunScan探測(cè)器;反射系數(shù)傳感器;數(shù)據(jù)采集終端;SunData軟件;三角架
四、參數(shù):
1、 探測(cè)器工作區(qū)域:1000x13mm寬,傳感器間距15.6mm
2、 探測(cè)器光譜響應(yīng):400-700nm (PAR);
3、 探測(cè)器測(cè)量時(shí)間:120ms;
4、 探測(cè)器分辨率:0.3μmol. m-2.s-1;
5、 探測(cè)器zui大讀數(shù):2500μmol.m-2.s-1
6、 操作溫度:0 - 60 °C;
7、 BF3電纜長度:標(biāo)準(zhǔn)為7米,可擴(kuò)展到100米;
8、 BF3無線連接方式;
9、 內(nèi)存:2M內(nèi)存,包含程序;1600K RAM 可用于儲(chǔ)存數(shù)據(jù);
五、產(chǎn)地: 英國
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