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產(chǎn)品描述

·無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，涵蓋明場(chǎng)、偏光、微分干涉等觀察方式。

·反射、透射兩種照明系統(tǒng)可選擇。長(zhǎng)工作距離平場(chǎng)復(fù)消色差物鏡。

·適用于半導(dǎo)體工業(yè)、電子工業(yè)、材料研究等領(lǐng)域。

產(chǎn)品規(guī)格

WF-10R 微分干涉檢測(cè)顯微鏡

 無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，長(zhǎng)工作距離平場(chǎng)復(fù)消色差物鏡，穩(wěn)定可靠的架臺(tái)，精確的調(diào)焦機(jī)構(gòu)。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、電子工業(yè)、材料科研等領(lǐng)域。DIC觀察模式尤其適合液晶顯示屏導(dǎo)電板的檢測(cè)。

規(guī)格配置：

1.無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)：F=200MM

2.光學(xué)放大倍數(shù)：50X、100X、200X

3.觀察方式：明場(chǎng)、偏光、微分干涉

4.長(zhǎng)工作距離：20-45MM

5.調(diào)焦范圍：60MM

6.平臺(tái)移動(dòng)范圍：X：±75MM、Y：±75MM

7.照明系統(tǒng)：垂直LED照明、透射LED照明

8.成像裝置：數(shù)字相機(jī)或模擬攝像頭

觀察方式：

1.明場(chǎng)觀察：亮度可調(diào)同軸LED照明，視野清晰明亮，適合集成電路的檢驗(yàn)、精密制造業(yè)的裝配、零件檢測(cè)和品質(zhì)控制。

2.透射觀察：采用亮度可調(diào)的透射照明，可觀察透明樣品，尤其適合用戶液晶顯示屏的品質(zhì)檢測(cè)，能清楚的觀察發(fā)光屏的三色模塊。

3.偏光觀察：系統(tǒng)內(nèi)裝置偏光機(jī)構(gòu)。可調(diào)的檢偏鏡，便于正交觀察。廣泛應(yīng)用于金相試樣、巖礦、煤巖、高分子試樣等偏光觀察。

4.DIC觀察--微分干涉觀察：在系統(tǒng)插入DIC棱鏡裝置（渥拉斯頓棱鏡），能突出樣品各組成之間的相對(duì)層次關(guān)系，使之呈明顯的浮雕狀，對(duì)顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能做出正確的判斷。DIC顯微鏡觀察法特別適用于液晶顯示屏導(dǎo)電板的檢測(cè)，能夠清楚的觀察到導(dǎo)電板基板上的導(dǎo)電粒子。

微分干涉檢測(cè)顯微鏡

微分干涉檢測(cè)顯微鏡

微分干涉檢測(cè)顯微鏡

微分干涉檢測(cè)顯微鏡