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看完本文對(duì)熒光光譜儀有多了解一些嗎
熒光光譜儀是一種用于黑色和有色金屬分析的快速定量分析儀器。該儀器廣泛應(yīng)用于冶金、機(jī)械等工業(yè)部門，用于冶煉爐前的在線分析和中心實(shí)驗(yàn)室的產(chǎn)品檢驗(yàn)。它是控制產(chǎn)品質(zhì)量的有效手段之一。
該產(chǎn)品分析速度快，準(zhǔn)確度高，相對(duì)誤差在1%左右。它適用于各種波長(zhǎng)。光電倍增管具有較強(qiáng)的信號(hào)放大能力，可對(duì)相差10000倍的不同譜線進(jìn)行不同的放大率。因此，在相同的分析條件下，可用于樣品中各種含量的測(cè)定，同時(shí)分析范圍差較大的元素，線性范圍寬，可用于高含量分析。
一臺(tái)典型的熒光光譜儀主要由一個(gè)光學(xué)平臺(tái)和一個(gè)檢測(cè)系統(tǒng)組成。包括以下幾個(gè)主要部分：
1.入射狹縫：在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。
2.準(zhǔn)直元件：使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄?。該?zhǔn)直元件可以是一獨(dú)立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵。
3.色散元件：通常采用光柵，使光信號(hào)在空間上按波長(zhǎng)分散成為多條光束。
4.聚焦元件：聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點(diǎn)對(duì)應(yīng)于一特定波長(zhǎng)。
5.探測(cè)器陣列：放置于焦平面，用于測(cè)量各波長(zhǎng)像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測(cè)器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測(cè)器陣列。
總結(jié)：熒光光譜儀的主要部分：就分享到這了，看完本文您就應(yīng)該有了基本的認(rèn)識(shí)和了解相信大家都明白了吧！總的來(lái)說(shuō)，希望對(duì)大家有所幫助。