頻率范圍:標(biāo)準(zhǔn)頻率范圍為 30kHz~3GHz,通過選件 006 可將頻率范圍擴(kuò)展至 6GHz,能滿足多種射頻應(yīng)用在不同頻段的測試需求。
信號(hào)源:集成化的合成信號(hào)源具有 1Hz 分辨率,提供達(dá) 10mW 的輸出功率(選件 011 為 100mW),支持線性、對(duì)數(shù)、列表和連續(xù)波掃描類型,可輸出穩(wěn)定且精確的激勵(lì)信號(hào)。
測試裝置:集成化的 S 參數(shù)測試裝置帶有固態(tài)轉(zhuǎn)換,延長了校準(zhǔn)間隔期,提高了可靠性,改善了抗靜電放電能力,并且允許在不使用倍頻器的情況下,對(duì)工作到 6GHz 的器件進(jìn)行傳輸和反射特性測量。
接收機(jī):三個(gè)調(diào)諧接收機(jī)可在 6GHz 處 105dB(帶有選件 006 頻率擴(kuò)展)或 3GHz 處 110dB(標(biāo)準(zhǔn))的寬動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)進(jìn)行獨(dú)立功率測量或同時(shí)進(jìn)行比值測量,能夠精確測量微弱信號(hào),有效抑制噪聲和干擾。
測量功能:可測量群延遲和與線性相位的偏離等參數(shù),全面地表征被測元件和網(wǎng)絡(luò)的特性。同時(shí)可選用時(shí)域測量和掃描諧波測量(選件 002),還能進(jìn)行混頻器測試(帶有頻率偏置能力)、功率計(jì)校準(zhǔn)、固定 IF 和掃描 IF 測量等。
顯示與存儲(chǔ):有 2 個(gè)獨(dú)立的顯示通道,可同時(shí)顯示反射和傳輸、幅度和相位等,能在高分辨率彩色顯示器上以重疊或分離屏面的形式觀察測量結(jié)果。儀器可將狀態(tài)和數(shù)據(jù)存儲(chǔ) / 調(diào)用到內(nèi)置磁盤驅(qū)動(dòng)器,便于保存和讀取測量數(shù)據(jù)、儀器設(shè)置等信息。
操作與效率提升:測試時(shí)序功能允許一次按鍵來迅速、反復(fù)執(zhí)行復(fù)雜的任務(wù),還可經(jīng)并行端口對(duì)外部裝置進(jìn)行控制。儀器具有更快的 CPU 時(shí)鐘速率、512kB 非易失存儲(chǔ)器,以及支持 LIF 和 DOS 格式的內(nèi)置磁盤驅(qū)動(dòng)器等,有助于提高整體性能和數(shù)據(jù)處理能力。此外,極限測試、任意頻率測試和標(biāo)記跟蹤功能等也為用戶提供了更多便利,進(jìn)一步提高測試效率和準(zhǔn)確性。
尺寸與重量:尺寸約為 22×17×9 英寸(長 × 寬 × 高),重量約為 64 磅,相對(duì)較為緊湊,便于在不同環(huán)境中使用和放置。
- Agilent/安捷倫
- KEYSIGHT/美國是德
- 其他品牌
- TeKtronix/美國泰克
- R&S/羅德與施瓦茨
- Santec/日本
- EXFO/加拿大
- FLUKE/福祿克
- Keithley/美國吉時(shí)利
- Anritsu/安立
- YOKOGAWA/日本橫河
- SRS/斯坦福
- HP/惠普
- FUJIKURA/藤倉
- ADCMT/愛德萬
- 美國力科
- HIOKI/日本日置
- SUMITOMO/住友
- OLYMPUS/奧林巴斯
- Ceyear/思儀
- KIKUSUI/日本菊水
- BCHP/中惠普
- 古河蓄電池
- Bristol/美國
- SHIMADZU/島津
- ITECH/艾德克斯
- Newport/美國
- Bruker/布魯克
- SPIRENT/思博倫
- RIGOL/普源
- GWINSTEK/中國臺(tái)灣固緯
- LitePoint/萊特波特
- SIGLENT/鼎陽
- YINUO/一諾儀器
- Waters/沃特世
- PICOTEST/中國臺(tái)灣儀鼎
- UNI-T/優(yōu)利德
- Ophir
- BIRD/美國鳥牌
- Chroma/致茂
- KEYENCE/基恩士
- AMETEK/阿美特克
- ESPEC/愛斯佩克
- OMRON/歐姆龍
- HACH/哈希
- SPECTRUM/上海光譜
- 中國臺(tái)灣博計(jì)
- EEC/中國臺(tái)灣華儀
- Siemens/西門子
- AP(Audio Precision)/美國
- 同惠電子
- HAMEG/德國惠美
- Nikon/日本尼康
- Hitachi/日立
- TDK-LAMBDA/日本
- OceanOptics/海洋光學(xué)
- 常州安柏
- NOISEKEN
- 盛普 SP