頻率范圍:300kHz 至 1.3GHz,可滿(mǎn)足多種射頻元件在該頻段內(nèi)的特性測(cè)試。
測(cè)量功能:內(nèi)置傳輸 / 反射測(cè)試裝置,具備全范圍幅度和相位測(cè)量能力。可測(cè)量 S 參數(shù)、插入損耗、增益、回波損耗、駐波比(SWR)、延遲、復(fù)數(shù)阻抗等參數(shù),還能進(jìn)行 S 參數(shù)分析和阻抗測(cè)量。
性能指標(biāo):系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍達(dá) 100dB,可在大信號(hào)動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)準(zhǔn)確測(cè)量。合成信號(hào)源具有 1Hz 分辨率,能提供穩(wěn)定且高分辨率的激勵(lì)信號(hào)。實(shí)時(shí)掃描速度快,僅 40ms / 次掃描,可快速完成測(cè)量,提高測(cè)試效率。
接收機(jī)檢測(cè):具備窄帶和寬帶兩種檢測(cè)方式,寬帶檢測(cè)用于表征頻率轉(zhuǎn)換器件,窄帶檢測(cè)可為測(cè)試高抑制窄帶器件提供高動(dòng)態(tài)范圍。
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與接口:標(biāo)準(zhǔn) LAN 接口方便連接外部設(shè)備,實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸和共享以及自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)的構(gòu)建。還支持標(biāo)準(zhǔn) Agilent Instrument BASIC(IBASIC),便于用戶(hù)編寫(xiě)程序,實(shí)現(xiàn)測(cè)量過(guò)程的自動(dòng)化和定制化。
顯示與操作:兩個(gè)獨(dú)立的測(cè)量通道可同時(shí)測(cè)量和顯示兩個(gè)器件參數(shù),如傳輸和反射響應(yīng),能以多種格式顯示,包括直角坐標(biāo)、極坐標(biāo)或史密斯圓圖上的復(fù)數(shù)阻抗、SWR 和延遲等。儀器采用矢量誤差校正技術(shù),可增強(qiáng)測(cè)量精度。
物理特性:結(jié)構(gòu)緊湊,集成化程度高,尺寸約為 16×14×10 英寸,重量 25 lbs,便于攜帶和在不同場(chǎng)所使用,對(duì)于制造、進(jìn)貨檢驗(yàn)和維護(hù)等場(chǎng)景均十分理想。
- 通用儀器
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