產(chǎn)品描述：
Q8344A 是 Advantest 的光學(xué)分析儀。光譜分析儀又稱光分析儀，是一種測量光源功率的精密儀器。該電子測試設(shè)備用于監(jiān)控規(guī)定波長范圍內(nèi)的功率分布。它在圖表中顯示測量值，其中功率是垂直刻度，波長是水平刻度。
Advantest Q8344A 使用基于邁克爾遜干涉儀的傅立葉頻譜分析方法。因此，Q8344A 可以測量光學(xué)相干性，而這種光學(xué)相干性是使用衍射型光譜分析儀無法直接獲得的，而衍射型光譜分析儀使用單色儀進行測量。
350 納米至 1750 納米
邁克爾遜干涉儀類型測量
直接相干長度測量
快速掃描
Q8344A 的規(guī)格：
輸入光纖：9/125 µm 和 50/125 µm
波長范圍：350-1750 nm
波長分辨率設(shè)置：0.05 at 850 nm 和 0.1 at 1310 nm
波長精度：± 0.1 nm
等級范圍：-70 至 +10 dBm (700-1600 nm)
-60 至 +10 dBm (450-1700 nm)
-45 至 +10 dBm (350-1750 nm)
電平精度：± 2.0 dB (850/1310 nm)
掃描時間：1.5 秒（400-1050 nm、800-1750 nm）
接口通訊：GPIB
化工儀器網(wǎng)