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更新時(shí)間:2024-06-26 14:49:03瀏覽次數(shù):669次
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簡(jiǎn)介
TH2851-130XS精密阻抗分析儀是常州同惠電子采用的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器,為國(guó)產(chǎn)阻抗測(cè)試儀器的最新高度。
TH2851-130XS精密阻抗分析儀改變了傳統(tǒng)國(guó)產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界面,基于Windows10操作系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了全電腦化操作界面,讓測(cè)試更智能、更簡(jiǎn)便。
TH2851-130XS精密阻抗分析儀也超越了國(guó)外同類儀器120MHz的頻率瓶頸;解決了國(guó)外同類儀器只能分析、無(wú)法單獨(dú)測(cè)試的缺陷;中英文操作界面也解決了國(guó)外儀器僅有英文界面的尷尬;采用單測(cè)和分析兩種界面,讓測(cè)試更簡(jiǎn)單。
快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度、及高達(dá)100MΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響,將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。
簡(jiǎn)要參數(shù) | TH2851- 130 | |
測(cè)試頻率 | 10Hz -130MHz | |
基本精度 | 0.045% | |
輸出阻抗 | 25mΩ-50MΩ | |
AC信號(hào)源 | 電壓 | 5mVrms - 2Vrms |
電流 | 200μA - 20mArms | |
DC偏置 | 電壓 | 0V - ±40V |
電流 | 0mA - ±100mA |
A. 高精度
寬帶自動(dòng)調(diào)零型自動(dòng)平衡電橋技術(shù)的應(yīng)用,得以在10Hz-130MHz頻率、25mΩ-50MΩ的阻抗范圍內(nèi)都能達(dá)到理想的10%測(cè)量精度,其中最高精度達(dá)0.045%,遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于射頻反射測(cè)量法的阻抗分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀的精度。
B. 高穩(wěn)定性和高一致性
下圖是在速度5、測(cè)試頻率1MHz,測(cè)量100Ω電阻的曲線,由下圖可見(jiàn)其軌跡噪聲≦0.003%(≦±0.0015Ω)
C. 高速度
D. 10.1寸大屏,四種測(cè)量參數(shù),讓細(xì)節(jié)一覽無(wú)遺
10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率,Windows10系統(tǒng)、中英文操作界面,支持鍵盤、鼠標(biāo)、LAN、VGA/HDMI接口,帶來(lái)的是無(wú)以倫比的操作便捷性。
大屏幕帶來(lái)更多的好處是,可以把所有測(cè)試參數(shù)及分選參數(shù)、分選結(jié)果、功能選擇等參數(shù)放置在同一屏幕,而且看起來(lái)絕不擁擠和雜亂,同時(shí)可以顯示四種測(cè)量參數(shù),四種測(cè)量參數(shù)任意可調(diào)。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測(cè)試參數(shù)
E. 增強(qiáng)的列表掃描功能
可以最多設(shè)置1601點(diǎn)的列表掃描,每個(gè)點(diǎn)可以單獨(dú)設(shè)置測(cè)試頻率、測(cè)試電壓、直流偏置等測(cè)試條件。
F. 強(qiáng)大的分析圖形界面
最多可以4通道同時(shí)顯示,每個(gè)通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法
通道 | 顯示窗口 | 單個(gè)窗口可以設(shè)置不同掃描條件 每個(gè)窗口可以設(shè)置4條曲線 |
曲線 | 測(cè)量參數(shù) |
G. 分段掃描功能
分段掃描是在一個(gè)掃描周期內(nèi),設(shè)置不同的頻率分段進(jìn)行掃描,掃描時(shí)可設(shè)置不同的電平及偏置,掃描結(jié)果直接圖形顯示,用于需要快速篩選多個(gè)頻率段參數(shù)的掃描需求。
如晶體諧振器需要測(cè)試標(biāo)稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率,通過(guò)分段掃描功能可在特定頻率范圍內(nèi)掃描測(cè)量,無(wú)需掃描不相關(guān)頻率
H. 強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力
TH2851系列精密阻抗分析儀具有強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力,可以通過(guò)光標(biāo)實(shí)現(xiàn)如下功能:
1. 讀取測(cè)量結(jié)果的數(shù)值(作為絕對(duì)數(shù)值或者相對(duì)于參考點(diǎn)的相對(duì)值)
2. 查找曲線上的特定點(diǎn)(光標(biāo)查找)
3. 分析曲線測(cè)量結(jié)果,計(jì)算統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)
4. 使用光標(biāo)值修改掃描范圍以及縱坐標(biāo)縮放
TH2851 可以在每條曲線上顯示10個(gè)光標(biāo),包括了參考光標(biāo)。
每個(gè)光標(biāo)有一個(gè)激勵(lì)值(坐標(biāo)系X軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值)和響應(yīng)值(坐標(biāo)系Y軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值)。
光標(biāo)查找功能允許搜索下列條件測(cè)量點(diǎn):
最大值、最小值 | |
峰谷值: | 峰值(極大值)、谷值(極小值)、光標(biāo)左側(cè)最近的峰谷值、光標(biāo)右側(cè)最近的峰谷值、多重峰谷值 |
目標(biāo)值: | 距離光標(biāo)最近的目標(biāo)值、光標(biāo)左側(cè)最近的目標(biāo)值、光標(biāo)右側(cè)最近的目標(biāo)值、多重目標(biāo)值 |
I. 強(qiáng)大的圖形分析功能
1) 曲線分選功能
可以對(duì)掃描曲線全部或者部分區(qū)域的測(cè)試值進(jìn)行合格/不合格判斷,常用于諧振曲線篩選如壓電元件等諧振頻率。
2) 等效電路分析測(cè)試
現(xiàn)實(shí)生活中不同類型的器件可以被等效成簡(jiǎn)單的三參數(shù)四種模型、四參數(shù)三種模型的阻抗器件,等效電路分析測(cè)試功能提供了7種基本的電路模型用于等效 這些器件。
可以通過(guò)仿真的等效電路參數(shù)值的阻抗擬合曲線與實(shí)際測(cè)量的阻抗曲線進(jìn)行對(duì)比,還可以通過(guò)您輸入的參數(shù)按照所選擇的模型進(jìn)行擬合。
等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶保存使用
3) 晶體振蕩器分析(壓電器件分析)
對(duì)晶體振蕩器進(jìn)行測(cè)量以及性能分析,測(cè)量計(jì)算后獲取晶體的諧振頻率、反諧振頻率、品質(zhì)因數(shù)等重要參數(shù)。
同時(shí),對(duì)于其他壓電器件如壓電陶瓷濾波器、壓電陶瓷陷波器、壓電陶瓷鑒頻器、壓電陶瓷變壓器、大功率超聲波發(fā)生器、換能器(振子)、聲表面波器件、電聲器件等都可以測(cè)試如靜態(tài)電容、損耗、諧振頻率、反諧振頻率、機(jī)械耦合系數(shù)等參數(shù)。
4) 曲線軌跡對(duì)比
曲線軌跡對(duì)比用于對(duì)被測(cè)件進(jìn)行連續(xù)測(cè)量,所有曲線顯示在同一個(gè)坐標(biāo)系中。由下列兩種應(yīng)用:
對(duì)比不同測(cè)量條件下的曲線軌跡
設(shè)置不同的頻率點(diǎn),計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值
b) 針對(duì)同一個(gè)被測(cè)件
對(duì)比同一個(gè)條件下測(cè)量的多次測(cè)量結(jié)果重復(fù)性
設(shè)置不同頻率點(diǎn),計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值
J. 介電常數(shù)分析(選件)
TH2851系列精密阻抗分析儀支持介質(zhì)材料介電常數(shù)、介質(zhì)損耗分析,需選購(gòu)測(cè)試夾具及分析軟件。
1. 配置
序號(hào) | 型號(hào) | 名稱 | 必選項(xiàng) |
1 | TH2851_*** | 阻抗分析儀主機(jī) | R |
2 | TH26077 | 介質(zhì)材料測(cè)試夾具 | R |
3 | TH2851 | 介電常數(shù)測(cè)試軟件 | R |
2. TH26077介質(zhì)材料測(cè)試夾具
TH26077電介質(zhì)材料測(cè)試夾具是設(shè)計(jì)在TH2851上進(jìn)行準(zhǔn)確的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)量的夾具。通過(guò)使用平行板方法測(cè)量固態(tài)材料的介電常數(shù),從而消除離散電容。
1) 外形結(jié)構(gòu)
2) 基本參數(shù)
測(cè)試頻率 | DC-30MHz | ||
測(cè)量參數(shù) | 電容(C)、耗損因數(shù)(D)、介電常數(shù)(εr', εr'') | ||
測(cè)試電極 | 電極種類 | 被測(cè)材料直徑 | 被測(cè)材料厚度 |
屏蔽電極A1 | 40mm - 56mm | ≤10mm | |
屏蔽電極A2 | 10mm - 56mm | ≤10mm | |
測(cè)試原理 | 平行板測(cè)量法 | ||
清零 | 開(kāi)路、短路 |
3) 測(cè)試原理
4) 介電常數(shù)公式
3. 介電常數(shù)分析軟件
該軟件為選件,開(kāi)通后在TH2851界面直接選擇對(duì)應(yīng)的參數(shù)即可,分別可以單測(cè)、列表掃描、曲線掃描,下圖為曲線掃描界面。
K. 磁導(dǎo)率分析
TH2851支持磁性材料磁導(dǎo)率測(cè)試,在主機(jī)的基礎(chǔ)上,需選配測(cè)試夾具及磁導(dǎo)率分析軟件,具體配置如下:
1. 配置
序號(hào) | 型號(hào) | 名稱 | 必選項(xiàng) |
1 | TH2851 | 阻抗分析儀主機(jī) | R |
2 | TH26086 | 測(cè)試夾具底座 | R |
3 | TH26088 | 磁導(dǎo)率測(cè)試夾具 | R |
4 | TH2851磁導(dǎo)率測(cè)試軟件 | R | |
5 | TH26086-CAL | 夾具校準(zhǔn)套件 | R |
2. 測(cè)試夾具
1)TH26086轉(zhuǎn)接底座
用于將4端對(duì)轉(zhuǎn)換成N型7mm底座,適配其他測(cè)試夾具如TH26088磁導(dǎo)率測(cè)試夾具。
TH26086為必選項(xiàng),若未選購(gòu),TH26088將無(wú)法正確測(cè)量。
技術(shù)參數(shù)
測(cè)試頻率 | DC - 130MHz |
最高電壓 | ±42V 峰值(AC+DC) |
工作溫度 | 0°C - 40°C |
2)TH26088磁導(dǎo)率測(cè)試夾具
TH26088可精確測(cè)量環(huán)形磁性材料的磁導(dǎo)率。由于該夾具的結(jié)構(gòu)是環(huán)形線圈繞一圈(無(wú)漏磁),因此不需要繞環(huán)形線圈的導(dǎo)線,而且允許廣泛的頻率覆蓋。 它配有一個(gè)小型和一個(gè)大型夾具,適應(yīng)各種尺寸,是測(cè)量磁性材料的理想結(jié)構(gòu)。
技術(shù)參數(shù)
測(cè)試頻率 | 1kHz - 1GHz | ||
樣本尺寸 | 高度h | 內(nèi)徑范圍b(直徑) | 外徑范圍c(直徑) |
小型部件用 | ≤ 3 mm | ≥ 3.1 mm | ≤ 8 mm |
大型部件用 | ≤ 8.5 mm | ≥ 5 mm | ≤ 20 mm |
3. 測(cè)試原理
1) 磁導(dǎo)率基本概念
2) 有效磁導(dǎo)率
采用電感測(cè)量法測(cè)量,在環(huán)形磁芯的磁芯上纏繞導(dǎo)線,并放置在一個(gè)密閉的圓柱形空間內(nèi)(TH26088夾具),通過(guò)阻抗分析儀測(cè)量導(dǎo)線兩端的電感(自感),根據(jù)測(cè)試電感量及下列公式推導(dǎo)出有效磁導(dǎo)率。
3) 相對(duì)導(dǎo)磁率
4. 磁導(dǎo)率分析軟件(選件)
選擇開(kāi)通磁導(dǎo)率分析軟件之后,儀器便可以在單測(cè)、列表掃描、曲線掃描中直接選擇磁導(dǎo)率參數(shù),直接在界面顯示測(cè)試結(jié)果
L. 標(biāo)配附件
M. 選配附件
應(yīng)用
■ 無(wú)源元件:
電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。
■ 半導(dǎo)體元件:
LED驅(qū)動(dòng)集成電路寄生參數(shù)測(cè)試分析;變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
■ 其它元件:
印制電路板、繼電器、開(kāi)關(guān)、電纜、電池等阻抗評(píng)估
■ 介質(zhì)材料:
塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估
■ 磁性材料:
鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估
■ 半導(dǎo)體材料:
半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性
■ 液晶單元:
介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性
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