?直觀的圖形化界面設計，簡化了參數配置及I-V測試分析過程SPS5000半導體參數測試軟件

?支持從測量設置、執(zhí)行到結果分析、數據管理的整個表征過程

即用型測試項，加速器件表征測試

SPS5000軟件具有各種強大的功能，可以快速進行測量并以圖形化方式獲取結果。為加速半導體器件檢定測試過程，SPS5000針對常見的器件類型，例如MOSFET、二極管、BJT以及薄膜電阻配備多種即用型測試項，使用者無需進行任何的測試項開發(fā)或代碼編程，即可快速執(zhí)行復雜的半導體測試。以MOSFET的Id-Vd輸出特性測試為例，傳統(tǒng)的測試過程需要經過：定義測試變量-----開發(fā)測試流程-----編寫測試代碼-----執(zhí)行測試。而通過SPS5000軟件用戶僅需要三個簡單的步驟，即可快速完成測試，第一步選擇即用型測試項Id-Vd-----第二步配置測量條件-----第三步執(zhí)行測試。

靈活提供測試序列，提升測試效率SPS5000半導體參數測試軟件

SPS5000軟件提供了一種靈活且高效的方法，允許用戶選擇多個測試項來構建測試序列，以便對半導體器件參數指標進行連續(xù)測試，從而顯著縮短了測試時間。這項功能適用于具備相同接線方式的測試項。在進行測試配置時，當您選擇其中一個測試項，軟件會自動顯示具有相同測試接線的其他測試項。您可以根據具體的測試場景和需求，選擇一次執(zhí)行單個測試項（如Id-Vd）或組合成測試序列進行連續(xù)測試（Id-Vd，Vth，IonIoffSlop），以實現半導體器件性能的評估和驗證。

強大的圖表在線分析功能

SPS5000軟件提供了強大的圖形顯示和分析功能。用戶可以利用軟件提供的各種圖表分析工具，如曲線自動縮放、恒值線、區(qū)域標記、切線、分布線等，快速完成對測試結果的分析。用戶無需導出圖表后借助其他輔助工具，更加方便快捷。此外，軟件還支持多Y軸功能，并允許用戶根據分析需求靈活配置X軸和Y軸的數據類型，以及選擇log或linear刻度顯示格式，讓曲線顯示更直觀和符合分析的意圖。如下圖所示，當您開啟line功能后，軟件會自動顯示line與曲線交點位置的參數值。