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膜厚儀測量使用注意事項(xiàng)
閱讀：517 發(fā)布時間：2017-12-20
膜厚儀測量使用注意事項(xiàng)
膜厚儀測量使用注意事項(xiàng)，珠海天創(chuàng)儀器公司為大家詳細(xì)介紹：
⒈在進(jìn)行測試的時候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因?yàn)橐话愕臏y厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。
⒏在進(jìn)行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
珠海天創(chuàng)儀器有限公司承諾：
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