高低溫試驗(yàn)箱

　　系列廣泛使用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等試驗(yàn)樣品做高低溫例行試驗(yàn)、耐寒試驗(yàn)、高低溫交變?cè)囼?yàn)、低溫儲(chǔ)存，以便在擬定環(huán)境條件下進(jìn)行試驗(yàn)儲(chǔ)存后對(duì)產(chǎn)品的性能、行為作出分析及評(píng)價(jià)

技術(shù)參數(shù)

設(shè)備特點(diǎn)

? 新一代外觀設(shè)計(jì)，箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng)、控制技術(shù)均做較大改進(jìn)，技術(shù)指標(biāo)更穩(wěn)定，運(yùn)行更可靠，維護(hù)更方便，備有高檔萬(wàn)
  向滾輪，方便在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)移動(dòng)

? 超大觸摸屏搖表式操作，外觀更加簡(jiǎn)潔大方，操作更加容易

? 真空雙層玻璃：大視窗設(shè)計(jì)，飛利浦高亮度照明，加熱無(wú)霧氣

? 為編程和文檔處理提供更多的接口選項(xiàng)，記錄量大：SD卡儲(chǔ)存，USB輸出，電腦連接打印，大倉(cāng)有紙無(wú)紙記錄等選配

? 可靠性高：主要配件選配*專業(yè)廠商，保證提高整機(jī)可靠性

控制系統(tǒng) 

執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法

GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)

GJB150.4A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn)

其他

? 使用環(huán)境溫度：+5~+35℃(降溫環(huán)境溫度+5~+28℃*)

? 安全：短路保護(hù)、超溫保護(hù)、壓縮機(jī)超壓保護(hù)、壓縮機(jī)過(guò)載保護(hù)、風(fēng)機(jī)過(guò)載保護(hù)、漏電保護(hù)、相序缺相保護(hù)、操作人員安全
  保護(hù)、試件保護(hù)
 

附件標(biāo)準(zhǔn)配置

? 標(biāo)準(zhǔn)樣品架：Aisi304材質(zhì)1

? 照明燈：飛利浦1

? 測(cè)試孔：Φ50mm、（Φ60mm、Φ100mm非標(biāo)）

? 高溫膠塞：1

? 高檔萬(wàn)向腳輪：4

? 通訊：SD卡/USB/CF/以太網(wǎng)，按儀表選配