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一、概述
MC-2010A型膜層測(cè)厚儀是科電公司高新技術(shù)的結(jié)晶。它采用單片機(jī)技術(shù)，測(cè)量精度高、數(shù)字顯示、操作簡(jiǎn)單方便、觸摸按鍵、內(nèi)置探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕; 強(qiáng)大的抗干擾能力，求值更穩(wěn)定；且具有低電壓指示、統(tǒng)計(jì)、系統(tǒng)/零點(diǎn)/兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能，其性能已達(dá)到當(dāng)代同類(lèi)儀器的良好水平。
MC-2010A型膜層測(cè)厚儀應(yīng)用范圍：本儀器采用磁性測(cè)厚法，可以方便無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車(chē)、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
MC-2010A型膜層測(cè)厚儀工作原理：MC-2010A型膜層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂（鍍）層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂（鍍）層厚度。
二、產(chǎn)品性能
MC-2010A型膜層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
1、測(cè)量范圍：0~1200um
2、測(cè)量誤差：<3%±1um
3、zui小示值：1um
4、顯示方式： 4位液晶數(shù)字顯示
5、主要功能： 
   （1）.測(cè)量：內(nèi)置探頭全量程測(cè)厚
   （2）.統(tǒng)計(jì)：設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值、zui大值、zui小值
   （3）.校準(zhǔn)：可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)
   （4）.電量：具有欠壓顯示功能
   （5）.蜂鳴提示：操作過(guò)程中有蜂鳴提示
   （6）.關(guān)機(jī)：具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方式
6、電源：  兩節(jié)1.5v電池
7、功耗：  zui大功耗90mw
8、外形尺寸：112mm*44mm*25mm
9、重量：    100g（含電池）
10、使用環(huán)境溫度：　0℃~+40℃  相對(duì)濕度：不大于90%
11、基體zui小厚度： 0.5mm
12、基體zui小平面的直徑： 7mm
13、zui小曲率半徑： 凸:1.5mm      凹:6mm
14、欠電壓指示：   右上角顯示＂＂
*臨界厚度值：工件鐵基厚度大于1mm時(shí)，其涂（鍍）層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度影響。