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K系列 博曼BOWMAN高精度鍍層測量儀K 系列是客戶測量各種樣品的理想之選，在高度不超過9英寸（228 mm）的工件上具有優(yōu)于同類產(chǎn)品的12英寸（304 mm...

便攜式超聲探傷儀EPOCH 650EPOCH 650數(shù)字式超聲探傷儀將奧林巴斯領(lǐng)xian行業(yè)的常規(guī)探傷性能及儀器小巧便攜、操作直觀的特點融合在一起。這款探傷儀具...

渦流探傷儀 OmniScan MX ECA/ECT渦流陣列技術(shù)（ECA）以電子方式驅(qū)動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應(yīng)線圈，并解讀來自這些感應(yīng)線圈的信號。通過使用...

奧林巴斯 超聲探傷儀 EPOCH 1000EPOCH 1000系列數(shù)字式超聲探傷儀將常規(guī)便攜式探傷儀的高級性能和相控陣成像能力結(jié)合在一起。EPOCH 1000、...

相控陣掃查器RollerFORM XLRollerFORM XL 掃查器在設(shè)計和性能都已經(jīng)過現(xiàn)場驗證的初款 RollerFORM 掃查器的基礎(chǔ)上研制而成，其集成...

奧林巴斯無損探傷儀OmniScan X3OmniScan X3探傷儀除了繼承以往系列儀器可靠、便利、防水、防塵等優(yōu)點外，在圖像質(zhì)量方面取得了長足的進步。針對形狀...

EPOCH 6LS 便攜式超聲探傷儀EPOCH 6LS超聲探傷儀機型簡潔、輕盈便攜、功能齊備，性能可靠。EPOCH 6LS探傷儀專門為ZG野外維護和維修市場而設(shè)...

奧林巴斯 測厚儀 Magna-Mike 8600Magna-Mike 8600是一款利用簡單的磁法對非鐵性材料進行可靠且重復(fù)性很高的厚度測量的便攜式測厚儀。Ma...

便攜式超聲探傷儀EPOCH 6LT便于攜帶、使用方便的EPOCH 6LT探傷儀是一款符合人體工程學(xué)要求的堅固耐用的儀器，不僅可使操作人員得心應(yīng)手地進行操作，還可...

布魯克 X射線鍍層測厚儀M1 ORA是適用于珠寶行業(yè)的臺式X射線鍍層測厚儀，結(jié)構(gòu)緊湊、占用空間小。

鍍層測厚儀M1M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀，可對大件樣品和鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素范圍：原子序數(shù)22號（鈦）-92號（鈾）中的元素...

大尺寸鍍層測厚儀M2 BLIZZARD采用開槽設(shè)計，適用于扁平形狀和尺寸過大的樣品。

納米力學(xué)測試系統(tǒng)TI 980一臺優(yōu)異納米力學(xué)測試儀器所需的要求，實驗上的靈活度與可實現(xiàn)性，測量穩(wěn)定性，以及系統(tǒng)設(shè)計的模塊化。

Hysitron 納米力學(xué)測試系統(tǒng)可以采用TI Premier 的多種基本配置完成常規(guī)測量的研究，同時多樣化的升級選項可以滿足您未來表征的潛在多樣性的需求。

布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE（立方）是一種以脈沖復(fù)位模式運行的單片電荷靈敏式前置放大器，借助外部電阻器，也可以以連續(xù)復(fù)位...

DANTE數(shù)字脈沖處理器DANTE數(shù)字脈沖處理器伽馬射線探測器信號，數(shù)字脈沖處理器，前置放大器芯片，X射線信號，前置放大器芯片，SDD探測器，同步輻射光源。

薄膜測厚儀MProbe系列反射光譜干涉法是一種非接觸式、無損的、快速的光學(xué)薄膜厚度測量技術(shù)。

反射膜厚儀MProbe VisMProbe Vis薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。

反射膜厚儀MProbe UVVisSRMProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。

反射膜厚儀MProbe RT該機大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。