微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是集電化學(xué)分析方法于一體的電化學(xué)通用儀器。該儀器能完成線性伏安、循環(huán)伏安、階梯伏安、脈沖伏安、方波伏安等電化學(xué)分析方法;還可以完成恒電位極化、恒電流極化，電位、電流、電量階躍和塔菲爾圖、交流阻抗等多項(xiàng)電化學(xué)測試功能。微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是在電化學(xué)工作站的基礎(chǔ)上加大輸出電流，提高掃描速度，提高電位、電流分辨率，在電化學(xué)測試方法上增加了脈沖電鍍方法、多種交流測試方法而成。

　　微區(qū)掃描電化學(xué)工作站產(chǎn)品性能說明：

　　1、微區(qū)掃描電化學(xué)工作站的低電流選項(xiàng)對腐蝕實(shí)驗(yàn)非常理想。輸入阻抗1014歐（并聯(lián)電容1pF），微區(qū)掃描電化學(xué)工作站可測低電流腐蝕速率和提供高阻抗涂層的EIS數(shù)據(jù)。微區(qū)掃描電化學(xué)工作站為研究腐蝕現(xiàn)象（均勻性、點(diǎn)蝕）提供了一些標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)和數(shù)據(jù)分析工具（塔菲爾和極化電阻擬合）。

　　2、微區(qū)掃描電化學(xué)工作站的設(shè)計(jì)有助于科學(xué)家們在電化學(xué)領(lǐng)域內(nèi)進(jìn)行鑒定性研究，如電子轉(zhuǎn)移動力學(xué)研究或低濃度下化合物的電化學(xué)分析?？焖匐娢粧呙杩梢苑直娉龇磻?yīng)的中間物種。對于低電流測量，微區(qū)掃描電化學(xué)工作站出色的靈敏度是其一大優(yōu)勢。

　　3、電位傳感器（離子選擇性電極）和電流傳感器（薄膜微電極或改性電極）要求對低電流具有高度的靈敏度。在1nA電流范圍內(nèi)帶低電流選項(xiàng)的SP-150分辨率可達(dá)76fA。連同抗測量一起的差分和脈沖技術(shù)以及軟件里的分析工具對電化學(xué)生物傳感器的研發(fā)特別有用。

　　4、微區(qū)掃描電化學(xué)工作站的設(shè)計(jì)和性能秉承了先前儀器在層間化合物、電池和超級電容器研究領(lǐng)域長久歷史的優(yōu)勢。許多技術(shù)在電流和電位控制模式中對電池循環(huán)都非常有用。如今這些技術(shù)也可用來同時評價(jià)燃料電池堆中的不同電池組件的性能。

　　5、微區(qū)掃描電化學(xué)工作站能進(jìn)行交流阻抗測試，此選項(xiàng)提供了完整的方波發(fā)生器和頻率響應(yīng)分析器安在恒電位儀板上。頻率范圍為10μHz——1MHz，恒電位儀輸入阻抗為1012歐（并聯(lián)電容20pF）。因此，微區(qū)掃描電化學(xué)工作站適合于腐蝕實(shí)驗(yàn)、電池測試和層間化合物研究的交流阻抗測量。帶低電流選項(xiàng)情況下，輸入阻抗增加到1014歐（并聯(lián)電容1pF），對薄膜的研究非常理想。用外接擴(kuò)展器，即使低于250微歐能量設(shè)備的阻抗也可以測試。

　　6、先進(jìn)和靈活的工作平臺：微區(qū)掃描電化學(xué)工作站系統(tǒng)可提供9種探針技術(shù)，使得M470成為靈活的電化學(xué)掃描灘鎮(zhèn)工作平臺。

　　7、全面的附件：7種模塊可選，3種不同電解池，各式探針，長距顯微鏡以及后處理數(shù)據(jù)分析軟件。

　　8、出色的性能：快速的閉環(huán)定位系統(tǒng)為電化學(xué)掃描探針納米級研究的需求而設(shè)計(jì)，微區(qū)掃描電化學(xué)工作站結(jié)合*的混合型技術(shù)，用戶可選擇合適實(shí)驗(yàn)研究的較佳配置。

　　微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是提供給電化學(xué)及材料測試以*空間分辨率的一個測試平臺。每個VersaSCAN都具有高分辨率，長工作距離的閉環(huán)定位系統(tǒng)并安裝于抗震光學(xué)平臺上。不同的輔助選件都安裝于定位系統(tǒng)上，輔助選件包括，如電位計(jì)，壓電振動單元，或者激光傳感器，為不同掃描探針試驗(yàn)，定位系統(tǒng)提供不同的功能。

　　微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是市場上競爭性的單通道電化學(xué)工作站。微區(qū)掃描電化學(xué)工作站可通過計(jì)算機(jī)的USB接口或以太網(wǎng)來連接控制?？山尤刖钟蚓W(wǎng)內(nèi)，經(jīng)授權(quán)的計(jì)算機(jī)可以進(jìn)行遠(yuǎn)程訪問。同時，它具有兩個模擬輸入和一個模擬輸出，用來控制外部儀器，如旋轉(zhuǎn)圓盤電極或石英晶體微天平以及記錄所生成的數(shù)據(jù)。