-掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM)

　　-掃描振動(dòng)電極測(cè)試(SVET)

　　-掃描開爾文(Kelvin)探針測(cè)試(SKP)

　　-微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試(LEIS)

　　-掃描電解液微滴測(cè)試(SDS)

　　-非觸式微區(qū)形貌測(cè)試(OSP)

　　

　　M370利用納米級(jí)分辨率的快速精確，閉環(huán)x,y,z定位系統(tǒng)，并連同一個(gè)便捷的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)使用戶依據(jù)自己的實(shí)驗(yàn)選擇配置。此系統(tǒng)設(shè)計(jì)靈活且人體工程學(xué)設(shè)計(jì)方便確保池體，樣品和探針的進(jìn)入。

　　

　　1.掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)SECM370

　　SECM370是一款精密的掃描微電極系統(tǒng)，具有*空間分辨率，在溶液中可檢測(cè)電流或施加電流于微電極與樣品之間。用于檢測(cè)，分析，或改變樣品在溶液中的表面和界面化學(xué)性質(zhì)。

　　應(yīng)用

　　*研究通過膜的流量

　　*監(jiān)測(cè)生物活性

　　*動(dòng)力學(xué)參數(shù)確定

　　*影像固定化酶

　　*活細(xì)胞監(jiān)測(cè)

　　*流體-流體界面

　　*化學(xué)成像的生物系統(tǒng)

　　*燃料電池材料的研究

　　*微區(qū)ISE

　　*表面改性

　　*腐蝕科學(xué)

　　

　　

　　

　　2.掃描卡爾文探針測(cè)試系統(tǒng)SKP370

　　掃描卡爾文探針系統(tǒng)SKP370，是一種無接觸，無破壞性的儀器，可以用于測(cè)量導(dǎo)電，涂膜，或半導(dǎo)體材料，與樣品探針之間的功函差。這種技術(shù)是用一個(gè)振動(dòng)電容探針來工作的，通過調(diào)節(jié)一個(gè)外加的前級(jí)電壓測(cè)量樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。功函和表面狀況相關(guān)。SKP的*性質(zhì)使在潮濕環(huán)境甚至是氣態(tài)環(huán)境中也可以測(cè)量，將不可能研究變?yōu)楝F(xiàn)實(shí)。