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全自動掃描電子顯微鏡優(yōu)劣評價標準
第四代 Phenom Pure+ 是一款使用高亮度 CeB6 燈絲的高分辨臺式全自動掃描電子顯微鏡鏡。放大倍數 65,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結構?；诟吡炼?CeB6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，Phenom Pro 的分辨率輕松達到 25 nm，同時具有全自動操作、15 秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點。納臺式掃描電鏡在中國市場的推廣和銷售，提供專業(yè)的和測試服務，飛納中國擁有*的服務團隊，提供*化的解決方案；飛納中國提出飛納學校 （Phenom University）的概念，為用戶提供從掃描電鏡基礎理論到 Level 5 應用工程師的進階培訓，在上海、北京、廣州設立了測試中心和售后服務中心，目前飛納在中國已經擁有接近 500 名用戶。
在選購時，您*需要考慮的問題，工作效率：
全自動掃描電子顯微鏡優(yōu)劣評價標準，是掃描電鏡的工作效率高低儀器客觀的工作效率是由儀器的軟硬件決定的，當基本的功能指標都相同或者相似，其中對效率影響zui大的兩個因素，是真空系統(tǒng)的清潔程度和樣品臺的自動化程度。電子束掃描樣品時，會被電子束誘導沉積到正在觀察的樣品區(qū)域表面，越高倍，沉積速度越快，污染降低se產額，從而降低成像分辨率；末級光闌在電子束作用下，zui容易沉積污染物，污染的隨機變化，在高倍引起的象散需要隨時進行校正。往往高倍需要逐級消象散，在一個區(qū)域調節(jié)電鏡參數到*，然后迅速電位移到就近區(qū)域掃描存儲圖像，這降低操作效率。