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GJB360.7電子及電氣元件溫度沖擊試驗(yàn)方法
最近更新時(shí)間：2015-12-17
提 供 商：廣東科文試驗(yàn)設(shè)備有限公司資料大小：88.7KB
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詳細(xì)介紹：
GJB360.7電子及電氣元件試驗(yàn)方法溫度沖擊試驗(yàn)
目的：確定元件保留于高低溫極值下，以及高低溫極值交替沖擊下所具有的抗御能力。
應(yīng)用：
試驗(yàn)樣品的失效數(shù)應(yīng)以zui后檢測(cè)為依據(jù)。
對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的要求
高溫箱，低溫箱應(yīng)能提供第2章表1所規(guī)定的極值溫度條件。
高溫箱，低溫相應(yīng)符合GJB360.1-87{電子及電氣元件試驗(yàn)方法總則}