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高溫老化房詳細(xì)資料
1．主要技術(shù)參數(shù)：
1.1 溫度范圍：RT+10～80℃

 
1.2 溫度波動：±0.5℃；

 
1.3 溫度偏差：zui大精度±2℃（可根據(jù)客戶要求設(shè)計精度，在一定條件下zui高可以做到±1℃）

 
1.4 房內(nèi)尺寸：溫度可以訂制

 
1.5 運行方式：溫度可調(diào)，恒定運行或程序運行（可選觸摸屏式程序運行）

 
1.6 安裝電源：AC~380V；50 Hz；

高溫老化房根據(jù)不同的要求配置主體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、風(fēng)力恒溫系統(tǒng)、時間控制系統(tǒng)、測試負(fù)載等，通過此測試程序可檢杳出不良品或不良件，是客戶迅速找出問題、解決問題提供有效手段，充分提高客戶生產(chǎn)效率和產(chǎn)品品質(zhì)。,也是針對于開關(guān)電源、手機充電器、電池、LCD、主板機、掃描器、監(jiān)視器、介面卡等做負(fù)載或溫度老化測試的一種設(shè)備，此設(shè)備外框架構(gòu)采用保溫庫板隔間組合而成，配上主配電箱、測試架、溫度控制器、定時器、各種電器開關(guān)、加溫電熱器、盤架、拉門、循環(huán)風(fēng)機、排風(fēng)機、插座等設(shè)備模擬出一種高溫、惡劣環(huán)境（40℃ -70℃±5℃、電源ON-OFF動作等），讓產(chǎn)品在此環(huán)境中接上模擬負(fù)載通電運作，測試時間可在0-99.9小時內(nèi)任意設(shè)定，通過此測試程序可查出不良品或不良零件，是制程、品管*之設(shè)備。由于老化房的性能及環(huán)境必須保證產(chǎn)品所需要的溫度、電源質(zhì)量、負(fù)載量、工作時間及操作人員的安全、習(xí)慣等要求，所以，一套合格的老化設(shè)備，應(yīng)該是一套安全可靠，高效節(jié)能、功能齊全和具有可擴充性的設(shè)備。

老化房，又叫高低溫試驗室或溫升房,是針對高性能電子產(chǎn)品（如：計算機整機，顯示器，終端機，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。