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詳細介紹
X射線熒光鍍層測厚儀工作特點：
快速可靠的X射線熒光鍍層厚度測量及材料分析，底成本、高效率
測量元素范圍：鈦Ti22---鈾U92；
測量5層(4層鍍層+底材層)鍍層，同時分析15種元素，自動修正X射線重疊譜線；
測量精度高、穩(wěn)定性好，測量結果*確至μin；
快速無損測量，測量時間短，10秒內得出測量結果；
可分析固體、溶液；定性、半定量和定量分析；
進行貴金屬檢測，如Au karat評價；
材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析；
強大的數據統(tǒng)計、處理功能：平均值、標準偏差、相對標準偏差、*大值、*小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數據分組、X-bar/R圖表、直方圖；
結果輸出：直接打印或一鍵導出到PDF、Excel文件；報告包含數據、圖像、統(tǒng)計圖表、客戶信息等；
測量位置預覽功能；高分辨率彩色CCD樣品觀察系統(tǒng)，標準光學放大倍數為30倍；
激光對焦和自動對焦功能；單擊鼠標，Z軸自動掃描，鐳射聚焦；
擁有NIST認證的標準片；
*的系統(tǒng)安全性
簡單用戶界面只向日常操作員設定有限的授權
主管人員可進行系統(tǒng)維護
系統(tǒng)自動生成操作員的使用記錄
自動鎖定功能防止未授權的操作
Z軸保護傳感器
安全防射線光閘
樣品室門開閉傳感器
X射線鎖
X射線警示燈
緊急停止按鈕
前面板安全鈕和后面板安全鎖
X射線熒光鍍層測厚儀工作原理：
對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。
配置
l X-Strata920測試主機
l 聯(lián)想ThinkCentre計算機(原IBM)------Windows7中文版、SmartLink FP分析軟件包
l 17吋戴爾Dell液晶顯示器
l 佳能Canon彩色噴墨打印機
l 標準片組件(滿足鍍層需要)
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