該靜電場描繪實驗儀（包括導電微晶、雙層固定支架、同步探針等），支架采用雙層式結構，上層放記錄紙，下層放導電微晶。電極已直接制作在導電微晶上，并將電極引線接出到外接線柱上，電極間制作有導電率，小于電極且向均勻的導電介質。接通直流電源（10V）可以進行實驗。在導電微晶和記錄紙上方有一探針，通過金屬探針臂把兩探針固定在同一手柄座上，兩探終保持在同一鉛垂線上。移動手柄座時，兩探針的運動軌跡是一樣的。由導電微晶上方的探針找到待測點后，按一下記錄紙上方的探針，在記錄紙上留下一個對應的標記。移動同步探針在導電微晶上找出若干電位相同的點，由此即可描繪出等位線。
實驗目的：
1.學習用模擬方法來測繪具有相同數(shù)學形式的物理場；
2.描繪出分布曲線及場量的分布特點；
3.加深對物理場概念的理解；
4.初步學會用模擬法測量和研究二維靜電場。
規(guī)格參數(shù)：
為雙層支架同步探針，內置四種電板（同心圓、平行導線、聚焦、劈尖形或飛機機翼電場）。
規(guī)格為410mm*240mm,高100mm，K4-2導線。
微晶導電層的均勻性，實驗值誤差為小于2%。
電源輸出范圍（直流）為7.00v-13.00V，分辨率為0.01V。
采用多圈電位器調節(jié)電壓，調節(jié)分辨率0.01V。