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當(dāng)前位置：北京中慧天誠科技有限公司>>技術(shù)文章>>電磁式薄膜測厚儀/膜厚計 日本 型號：WBLE-200J
| 電磁式薄膜測厚儀/膜厚計 日本 型號：WBLE-200J | 貨號：ZH6918 |
| 產(chǎn)品簡介 本儀器采用了磁性測厚方法，可損的測量磁性金屬基體（如鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）。 內(nèi)置打印機，可打印數(shù)據(jù)，有四個統(tǒng)計功能。 測定方法:電磁式 測定對象:磁性金屬上非磁性涂鍍層 測定范圍:0～1500um或0～60.0mils 測定精度:<15um±0.3um >15um±2% 分辨率:<100um 0.1um >100um 1um 界限設(shè)定:可設(shè)定上/下限數(shù)值 測試單位:公/英制互換 顯示方式:LCD數(shù)顯 操作面板:密封防水按鍵 附屬品:鐵基體/校正標(biāo)準(zhǔn)片/電池/皮套/說明書 電源:DV3V 主機5#堿性電池×6個 打印機5#堿性電池×4個 體積:80（W）×80（D）×30（H） 重量:1100g |  |
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