UM-4D超聲波測(cè)厚儀
產(chǎn)品概述：
●經(jīng)濟(jì)型全數(shù)字測(cè)厚儀
全數(shù)字測(cè)厚儀需要把模擬的超聲波信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)，然后對(duì)數(shù)字信號(hào)進(jìn)行運(yùn)算處理，終獲得高性能的厚度測(cè)量能力。UM-4系列的A掃描快照功能、過(guò)零測(cè)量技術(shù)、高分辨力都是以全數(shù)字技術(shù)為基礎(chǔ)的。

●創(chuàng)新的A掃描快照功能，標(biāo)志著經(jīng)濟(jì)型測(cè)厚儀進(jìn)入全數(shù)字時(shí)代
UM-4在同檔產(chǎn)品中提供A掃描波形顯示功能。聲波不超聲波不再是看不見(jiàn)摸不著的 抽象概念，  用戶在屏幕上可直接看到超聲信號(hào)波形，用于驗(yàn)證厚度讀數(shù)是否正確、分析出現(xiàn)問(wèn)題的原因、幫助用戶找到解決問(wèn)題的辦法。

●采用突破性的過(guò)零測(cè)量技術(shù)
以全數(shù)字技術(shù)為基礎(chǔ)，采用過(guò)零測(cè)量技術(shù)，厚度測(cè)量值不受回波強(qiáng)度、材料衰減系數(shù)、增益和閘門高度的影響，具有高測(cè)量穩(wěn)定性和可靠性。

●具有穿透涂層功能
我們之前推出了具有穿透涂層技術(shù)的UM-1D測(cè)厚儀，現(xiàn)在UM-4D與UM-4DL同樣具備這一*的功能。該功能是通過(guò)測(cè)量基材的兩個(gè)連續(xù)底面回波實(shí)現(xiàn)的。
在該模式下還具有更多的優(yōu)勢(shì)：
1、免零點(diǎn)校準(zhǔn)；
2、高穩(wěn)定性，測(cè)量值不受探頭壓力、耦合層厚度和工件表面灰塵污漬的影響；
3、零漂移。

●更多實(shí)用功能
◆增益：高、中、低三檔可調(diào)；
◆報(bào)警模式：報(bào)警時(shí)動(dòng)態(tài)改變厚度讀數(shù)顏色；
◆差值/縮減率：差值模式顯示實(shí)測(cè)厚度與預(yù)設(shè)厚度之間的差值變化?？s減率是計(jì)算并顯示材料變薄以后厚度縮減的百分比。典型應(yīng)用是對(duì)因彎曲而變薄的金屬材料進(jìn)行測(cè)量；
◆大/小值捕獲：屏幕上同時(shí)顯示當(dāng)前厚度值、小厚度值和大厚度值。

UM-4D超聲波測(cè)厚儀
技術(shù)參數(shù)：