不卡的视频在线播放,日本一区二区三区入口

產(chǎn)品分類 品牌分類

新品推薦

塞貝克系數(shù)電阻測試儀先進(jìn)功能材料電測綜合測試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng) 儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺空間電荷測試系統(tǒng) 電容器溫度特性評估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置鐵電分析儀高壓功率放大器絕緣電阻率測試儀高低溫冷熱臺測試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測試儀電壓擊穿測定儀耐電弧試驗(yàn)儀探針臺漏電起痕試驗(yàn)儀多通道介電與電阻測試系統(tǒng)
儲能科學(xué)與工程試驗(yàn)設(shè)備

變溫電壓擊穿試驗(yàn)儀隔膜氣密性測試系統(tǒng) 電弱點(diǎn)測驗(yàn)儀高壓漏電起痕試驗(yàn)儀閉孔破孔溫度測試儀變溫?fù)舸╇妷涸囼?yàn)儀耐電弧試驗(yàn)儀高溫絕緣電阻測試儀電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng) 低壓漏電起痕試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓試驗(yàn)儀
工程塑料絕緣測試設(shè)備

高壓漏電起痕試驗(yàn)儀- 絕緣診斷分析儀- 長期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺絕緣電阻測試平臺
改性塑料試驗(yàn)設(shè)備

電壓擊穿試驗(yàn)儀耐電弧測試儀絕緣電阻試驗(yàn)儀電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng) 高壓、低壓漏電起痕試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓測試儀
功能材料測試儀器

傳感器多功能綜合測試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測綜合測試系統(tǒng) 長期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺- 高電場介電、損耗、漏電流測試系統(tǒng) 阻抗分析儀鐵電綜合材料測試系統(tǒng) 鐵電分析儀高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測試儀高溫介電溫譜測試儀熱釋電測試儀 TSDC熱刺激電流測試儀高壓極化裝置高低溫冷熱臺簡易探針臺高溫四探針測試儀多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐電學(xué)綜合測試系統(tǒng) 高溫管式爐測試儀漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀電化學(xué)遷移測試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置導(dǎo)通電評估系統(tǒng) 差熱分析儀醫(yī)用接地電阻
絕緣材料測試儀器

高阻計(jì) 擊穿電壓測定儀表面體積電阻率測試儀耐電弧測試儀高壓/漏電起痕試驗(yàn)儀低壓/漏電起痕試驗(yàn)儀導(dǎo)電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀高溫直流測試系統(tǒng)
高壓功率放大器

30KV高壓功率放大器 20KV/HS高壓功率放大器 20KV高壓功率放大器 10KV/HS高壓功率放大器 HCAM-10KV高壓功率放大器 HCAM-8KV高壓功率放大器 HCAM-5KV高壓功率放大器 HCAM-1KV高壓功率放大器 HCAM-700V高壓功率放大器 HCAM-500V高壓功率放大器 HCAM-200V高壓功率放大器 HCAM-4KV高壓功率放大器 HCAM-2KV高壓功率放大器
高壓電源與高壓驅(qū)動(dòng)設(shè)備

高壓極化電源高壓功率放大器
半導(dǎo)體封裝材料測試系統(tǒng)

電場介電損耗，漏電流測試系統(tǒng) TSDC測試系統(tǒng) 高低溫絕緣電阻測試系統(tǒng) 真空探針臺
脈沖發(fā)生器

HCHV-10000脈沖發(fā)生器 HCHV-6000脈沖發(fā)生器 HCHV-3500脈沖發(fā)生器 HCHV-2000脈沖發(fā)生器 HCHV-1000脈沖發(fā)生器
高低溫環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備

高低溫烘箱小型探針臺高低溫冷熱臺
靜電試驗(yàn)設(shè)備

高阻高壓表皮安表/飛安表靜電計(jì) 電荷量表
國標(biāo)設(shè)備

電壓擊穿測試儀耐電弧試驗(yàn)儀高壓、低壓漏電起痕表面體積電阻率（高阻計(jì)）電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓測試儀
附件及配件

變溫鐵電測試盒法拉第筒高壓電源功率放大器鐵電測試夾具高低溫絕緣電阻夾具壓電D31/D33夾具

評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的設(shè)備

閱讀：298 發(fā)布時(shí)間：2025/2/6

評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的設(shè)備

絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)產(chǎn)品介紹：

離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備。它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過長時(shí)間的測試（1~1000小時(shí)可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響。

絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)測試樣品材質(zhì)：

1、助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料

2、BGA、CSP等精細(xì)節(jié)距IC封裝件

3、有機(jī)半導(dǎo)體相關(guān)（有機(jī)EL）

4、電容、連接器等其他電子元器件及材料

5、各種絕緣材料的吸濕性特性評估

絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)應(yīng)用領(lǐng)域：

封裝材料：助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料；

電子材料：印BGA、CSP等精細(xì)節(jié)距IC封裝件；

有機(jī)半導(dǎo)體：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等；

電子元器件：電容、連接器等其他電子元器件及材料；

絕緣材料：各種絕緣材料的吸濕性特性評估。