X-RAY膜厚儀校正片XRF-2020測厚儀標準片
韓國微先鋒XRF-2020鍍層測厚儀標準片
適合各種X光鍍層測厚儀：標準片通用
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。
也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系
來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。
對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
X-RAY膜厚儀校正片XRF-2020測厚儀標準片
鍍鎳測厚儀校正片,鍍鋅測厚儀校正片
韓國*
金,鎳,銅,錫,銀,鋅,鋅鎳合金等
各種厚度及規(guī)格均可訂制
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