韓國Micro Pioneer XRF-2000測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片

鍍層測(cè)厚儀校正片

適合各種X光鍍層測(cè)厚儀

測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片，專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)試檔案。也就是我們?cè)谀ず駵y(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測(cè)量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對(duì)于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測(cè)厚儀來檢測(cè)品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。 
    

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