韓國XRF-2000X射線鍍層測(cè)厚儀功能

1. 可測(cè)綠油厚度(在 Cu 或其他金屬中).方法是客戶自行準(zhǔn)備二片不同厚度的板.先用其他方法把綠油厚度測(cè)出來.然後用此二片板做一檔案即可.誤差約15%.視乎不同厚度有所不同.

2.      可測(cè)板來料 Cu 厚度(選購件).會(huì)另配一探頭於機(jī)上.可測(cè) 0.5oz 至 4.0oz Cu 厚度. 誤差約5%.視乎不同厚度有所不同.

3.      可測(cè)溶液濃度(選購件).方法是先用 AA 機(jī)測(cè)溶液濃度.然後用此溶液做檔案即可.誤差約10%(視乎不同濃度有所不同).

4.      XRF2000 可測(cè)六層.誤差大約如下:*層(5%).第二層(10%).第三層(15%).第四層(20%).第五層(25%).第六層為底材.誤差視乎不同原素不同厚度有所不同.

以下是一些應(yīng)用參考.

XRF2000 可測(cè)範(fàn)圍

Au 0.5-120uinch. Ni 10-400uinch.

Au 0.5-120uinch. Ni-P 10-400uinch

Sn 100% 40-3500uinch. Sn 60% 40-1500uinch. Sn 90% 40-2000uinch

Au 0.5-320uinch

Sn 10-350uinch. Ni 10-500uinch

Sn 40-2500uinch

韓國先鋒XRF2000鍍層測(cè)厚儀

檢測(cè)電子及五金電鍍,化學(xué)電鍍層厚度

主要檢測(cè):鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等

韓國XRF2000鍍層測(cè)厚儀

全自動(dòng)臺(tái)面
自動(dòng)雷射對(duì)焦
多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測(cè)樣品）
測(cè)量樣品高度不超過3cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測(cè)試范圍：0.03－35um

可測(cè)試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
(單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等)
(雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再銀,銅上鍍鎳再鍍鉻等)
多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳,再鍍金等)
合金鍍層:如鐵上鍍錫銅等，底材不限，雙層及多層厚度各自分開顯示．
測(cè)量時(shí)間：10－30秒
 

精度控制：
      *層：±5%以內(nèi)
      第二層：±8%以內(nèi)
      第三層：±12%以內(nèi)

韓國XRF-2000X射線鍍層測(cè)厚儀功能