XRF-2000測厚儀X-RAY膜厚測量儀標準片

應用于測厚儀校正及應用程序添加

XRF-2000測厚儀標準片：金,鎳,銅,鋅,鉻,錫,銀,鋅鎳合金等

各鍍種標片及范圍通用于所有品牌測厚儀

標準片均附帶證書

標準片X射線鍍層測厚儀校正片（通用型）

適合各種X射線鍍層測厚儀

測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業(yè)用于X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

XRF-2000測厚儀標準片

如下圖所示

測厚儀標準片韓國XRF膜厚儀校正片

標準片所有X射線測厚儀通用

銅，鎳，鋅，鉻，金，錫，銀，鋅鎳合金:各種規(guī)格厚度標準片均有

XRF-2000測厚儀X-RAY膜厚測量儀標準片

提供金,鎳,銅,鋅,鉻,錫,銀,鋅鎳合金等標準片

各種規(guī)格及厚度范圍勻可訂制。

適應不同品牌鍍層測厚儀，標準片通用！