X射線鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上

通過從樣品上反射出來的第二次X射線強度來測量鍍層等金屬鍍層的厚度。

金屬鍍層厚度的測量方法有多種，其中X射線熒光法是無接觸無損測量

測量范圍廣，X射線法可測極薄單鍍層、雙鍍層、合金鍍層，且不受底材影響。

各種金屬或塑膠電子零件,五金工件,端子連接器等在加工后為

防止生銹，或者美觀，或功能 會對零件表面鍍銅鎳銀鋅錫及鋅鎳合金等電解鍍層

但由于工藝或技術(shù)問題，會出現(xiàn)有的地方鍍的厚一些，有的地方薄一些

這樣就會導(dǎo)致零件鍍層厚度需要一種測厚儀，這種儀器就是鍍層測厚儀

測量原理：

物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

L型韓國XRF-2020鍍層測厚儀XRF-2000下圖的示

XRF-2020L型：測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg

測量鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量，不限底料

儀器全自動臺面

自動雷射對焦,多點自動測量。