XRF-2000L膜厚儀X射線鍍層測厚儀

XRF-2020系列系統(tǒng)

利用了當一個樣品被x射線輻射照射時，樣品的原子被激發(fā)的現象。當原子恢復到穩(wěn)定狀態(tài)時，它們會發(fā)出x射線光子。每個元素都有其不同的特征發(fā)射線。這些能量被記錄在系統(tǒng)中，并存儲于計算機。

通過將獲得的光譜中的元素線與系統(tǒng)數據庫中列出的相應元素線進行比較，來確定給定樣本的元素。

在獲得的光譜中，元素線的強度（幅度）與其濃度或厚度有關。增加元素的濃度或厚度結果是該元素的熒光輻射特性強度的增加。通過使用經驗或理論的物理模型，該系統(tǒng)可以提供精確的定性和定量的分析或厚度測量。

韓國MicropioneerXRF-2000/XRF-2020

功能及應用:

快速無損測量電鍍層厚度

可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層

測量鍍金 鍍銀 鍍鎳 鍍錫 鍍銅 鍍鉻 鍍鋅鎳合金等！

測量范圍0.02-35um

鍍層測厚儀功能XRF-2020膜厚測量儀

XRF-2020測厚儀規(guī)格

XRF-2020L型:

測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

XRF-2020H型:

測量樣品長寬55cm,高10cm:臺載重5kg

儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量

多個準直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換

X射線鍍層測厚儀XRF-2020原理及功能

原產地：韓國

型號：XRF-2020系列

功能及應用:

快速無損測量電鍍層厚度

可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層

測量鍍金 鍍銀 鍍鎳 鍍錫 鍍銅 鍍鉻 鍍鋅鎳合金等！

測量范圍0.02-35um

鍍層測厚儀功能XRF-2020膜厚測量儀